JBC-03型(xing)微電(dian)腦(nao)繼(ji)電保(bao)護(hu)校(xiao)驗(yan)儀(yi)，本(ben)儀(yi)器(qi)可(ke)測(ce)試(shi)各(ge)種交(jiao)直(zhi)流(liu)電(dian)流(liu)、電(dian)壓(ya)、中(zhong)間、信號(hao)、重(zhong)合閘(zha)、差動等多種單個(ge)繼(ji)電器(qi)及(ji)整(zheng)組繼(ji)電保(bao)護(hu)屏(ping)，可(ke)測(ce)試(shi)各(ge)種繼(ji)電器(qi)的吸合(he)電壓(ya)（電流(liu)）值，釋放(fang)電(dian)壓(ya)（電流(liu)）值，各種觸頭（常(chang)開、常(chang)閉、轉換、延(yan)時）的吸合(he)時間(jian)和(he)斷(duan)開(kai)時間(jian)，均自(zi)動測試(shi)三次(ci)，自(zi)動計(ji)算(suan)三次(ci)均值，並可(ke)打(da)印測試(shi)結(jie)果(guo)。