ST-3000型(xing)電(dian)纜故障測(ce)試儀

ST-3000型(xing)電(dian)纜故障測(ce)試儀簡介

是我們公司(si)根據用戶(hu)要(yao)求，從(cong)現(xian)場使用考(kao)慮(lv)，精心設(she)計(ji)和(he)制(zhi)造的(de)全(quan)新(xin)壹代便(bian)攜式電纜故障測(ce)試儀器(qi)。它(ta)將(jiang)原(yuan)來的(de)電(dian)纜故障測(ce)試儀故障測(ce)試部分和(he)路(lu)徑(jing)部分二(er)合壹，縮(suo)小了(le)體(ti)積、增(zeng)加了(le)直流(liu)電源和(he)USB通(tong)信接口(kou)，可用於(yu)檢(jian)測(ce)各種(zhong)電(dian)纜的(de)低阻、高(gao)阻(zu)、短(duan)路(lu)、開(kai)路(lu)、泄漏性故障以及閃(shan)絡(luo)性故障，可準確(que)的(de)檢(jian)測(ce)地下電(dian)纜的(de)故障點(dian)位(wei)置、電(dian)纜長(chang)度(du)和(he)電纜的(de)埋(mai)設(she)路(lu)徑(jing)。它(ta)秉(bing)承(cheng)我(wo)們壹貫(guan)高(gao)科(ke)技(ji)、高(gao)精(jing)度(du)、高(gao)質(zhi)量(liang)的(de)宗旨(zhi)，將(jiang)電纜測(ce)試水平提高(gao)到(dao)壹個新境(jing)界。它(ta)具(ju)有測(ce)試準確(que)、智(zhi)能化(hua)程(cheng)度(du)高(gao)、適(shi)應面(mian)廣(guang)、性能(neng)穩(wen)定以及輕巧便(bian)攜等(deng)特(te)點(dian)。儀(yi)器(qi)采(cai)用漢(han)字(zi)系(xi)統(tong)，高(gao)清(qing)晰度(du)顯(xian)示(shi)，界面(mian)友好(hao)。

ST-3000型(xing)電(dian)纜故障測(ce)試儀整(zheng)套儀(yi)器(qi)特(te)點(dian)：
整(zheng)套設(she)備(bei)將故障測(ce)試和(he)路(lu)徑(jing)尋測(ce)部分二(er)合壹，鋰(li)電(dian)池供電(dian)、主(zhu)機(ji)輕(qing)巧、便(bian)於攜帶、方(fang)便(bian)測(ce)試。
采用了(le)新型(xing)大(da)屏幕(mu)液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏，高亮度(du)、抗(kang)幹擾(rao)性強(qiang)。
自(zi)帶直流(liu)電源，方(fang)便(bian)現(xian)場對測(ce)、野(ye)外(wai)測(ce)試和(he)礦井(jing)電纜測(ce)試。
USB通(tong)信接口(kou)：現(xian)僅(jin)供專業生(sheng)產技(ji)術人員(yuan)調(tiao)試和(he)升級主機(ji)程(cheng)序時(shi)使用。

自(zi)帶微型(xing)打印機(ji)，可打印傳真波形(xing)，為用戶(hu)現(xian)場準確(que)分(fen)析(xi)、指導波形(xing)，提供(gong)便(bian)利的(de)技(ji)術服務。
新研(yan)制(zhi)的(de)電(dian)流(liu)取樣器(qi)是(shi)壹種(zhong)全(quan)新(xin)的(de)取樣方(fang)法，具(ju)有接線簡單(dan)，波形(xing)直觀(guan)容易分析(xi)，與(yu)高壓*隔離(li)，對主機(ji)、操(cao)作(zuo)人員(yuan)安(an)全的(de)特(te)點(dian)。
關(guan)鍵的(de)是(shi)精(jing)確定點(dian)儀(yi)部分，借(jie)鑒(jian)德國(guo)技術，采用*的(de)聲(sheng)磁同(tong)步(bu)接(jie)收技(ji)術，*隔離(li)外(wai)界燥(zao)音幹擾(rao)，可快速(su)確定出(chu)電纜路(lu)徑(jing)及故障點(dian)的(de)準確(que)位(wei)置。是(shi)國(guo)內同(tong)類(lei)定點(dian)技(ji)術的(de)又壹次(ci)創(chuang)新(xin)，為快速(su)準確(que)查(zha)找(zhao)電纜故障，減(jian)少停電損(sun)失提(ti)供(gong)了(le)有力(li)的(de)保障。
外(wai)形(xing)尺(chi)寸：（長(chang)×寬×高(gao)）370×180×240mm 。
本(ben)測(ce)試儀用於(yu)從(cong)電(dian)纜壹端(duan)粗(cu)測(ce)故障點(dian)的(de)地下實(shi)際(ji)距離(li)，同(tong)時(shi)用於(yu)測(ce)量(liang)電(dian)纜長(chang)度(du)以及測(ce)定電波在電纜中的(de)傳播(bo)速(su)度(du)。

測(ce)試儀方(fang)框圖：_______電纜故障測(ce)試儀組成框圖如圖（1）所示(shi)： 

主(zhu)要(yao)技術性能(neng)指示
壹、測(ce)試儀技(ji)術指標
使用範圍(wei)：使(shi)用於(yu)測(ce)量(liang)各(ge)種(zhong)不(bu)同(tong)截(jie)面(mian)、不同(tong)介(jie)質(zhi)的(de)各(ge)種(zhong)電(dian)力(li)電纜、高頻(pin)同(tong)軸(zhou)電(dian)纜，市話電纜及兩(liang)根以上(shang)均勻(yun)鋪設(she)的(de)地埋(mai)電(dian)線(xian)等(deng)電(dian)纜高低阻、短(duan)路(lu)、開(kai)路(lu)、斷(duan)線以及高阻(zu)泄漏和(he)高阻閃(shan)路(lu)性故障。
測(ce)試距離(li)：zui長(chang)不小於40Km
zui短(duan)測(ce)試距離(li)（盲區(qu)）：1～5m
測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)：粗(cu)測(ce)誤(wu)差(cha)±1% 定點(dian)誤(wu)差(cha)±0.2m
工(gong)作(zuo)方(fang)式：低壓脈(mai)沖(chong)、支(zhi)流高(gao)壓閃(shan)測(ce)及沖(chong)擊高(gao)壓閃(shan)測(ce)。
采樣速(su)率：25MHz。
機(ji)內(nei)發(fa)送(song)脈(mai)沖(chong)寬度(du)與(yu)幅度(du)：0.2us, 100～120V； 2us, 150～160V。
存儲容量(liang)：8Kbyte並(bing)可分成(cheng)兩(liang)個存儲區(qu)，存儲和(he)顯示兩(liang)次(ci)采(cai)樣(yang)波形(xing)進行(xing)比(bi)較(jiao)測(ce)量(liang)。 
顯(xian)示(shi)分辨率：V/50米、V為傳播(bo)速(su)度(du)m/us。
顯(xian)示(shi)方(fang)式：320×240 LCD液晶(jing)帶背光顯(xian)示。
打印方(fang)式：機(ji)器(qi)主(zhu)面(mian)板設(she)微(wei)型(xing)打印機(ji)記(ji)錄(lu)測(ce)試日期(qi)及測(ce)試波形(xing)數據。
電源與(yu)功(gong)耗(hao)：AC 200V± 10%或機(ji)內(nei)直(zhi)流(liu)供電，功(gong)耗(hao)不(bu)大(da)於10W； DC 6V（7AH）功(gong)耗(hao)不(bu)大(da)於6W。
體(ti)積：300×400×180mm（長(chang)×寬×高(gao)）。
第二(er)節 儀(yi)器(qi)面(mian)板及(ji)操(cao)作(zuo)功(gong)能(neng)
高(gao)壓電纜故障測(ce)試儀面(mian)板及(ji)鍵盤示(shi)意如圖（2）所示(shi)：

計(ji)算機(ji)USB通(tong)信接口(kou)：現(xian)僅(jin)供專業生(sheng)產技(ji)術人員(yuan)調(tiao)試和(he)錄入程序使(shi)用。
儀(yi)器(qi)指示燈：分(fen)別(bie)為：充電(dian)、欠(qian)壓、脈(mai)寬(kuan)（0.2/2）。
輸入輸出(chu)插座(zuo)：儀器(qi)使(shi)用BNC-50KY（Q9）插(cha)座(zuo)，連(lian)接電(dian)纜線用於(yu)測(ce)試信號的(de)輸(shu)入輸出(chu)。
輸入振幅：用於(yu)調(tiao)節輸(shu)入、輸出(chu)脈(mai)沖(chong)幅度(du)大(da)小。使用時(shi)應根據屏幕(mu)顯(xian)示(shi)波形(xing)進行(xing)調(tiao)節。調(tiao)節過(guo)小時，脈(mai)沖(chong)反射很小，甚至無(wu)法采(cai)樣(yang)，如圖（3）。調節過(guo)大(da)時，反射脈(mai)沖(chong)相連(lian)與(yu)基線(xian)無(wu)交點(dian)甚(shen)至(zhi)基(ji)線會(hui)變成(cheng)斜(xie)線(xian)，如(ru)圖（4）。壹般(ban)采(cai)樣(yang)前，輸(shu)入振幅旋鈕(niu)旋(xuan)轉(zhuan)1/3左右(you)，然(ran)後(hou)根據波形(xing)大(da)小在進行調(tiao)節，重(zhong)新(xin)采樣。

對(dui)比(bi)度(du)調(tiao)節旋(xuan)鈕(niu)：調節此(ci)旋(xuan)鈕，使字(zi)跡(ji)顯(xian)示清(qing)晰，無(wu)條(tiao)紋和(he)背景幹凈為宜。
脈(mai)寬(kuan)選(xuan)擇按(an)鈕：該鍵擡起(qi)時(shi)，儀(yi)器(qi)輸(shu)出(chu)0.2uS脈(mai)沖(chong)；該鍵按下(xia)時，壹起(qi)輸(shu)出(chu)2uS。電纜實測(ce)時壹般(ban)優先用0.2uS測(ce)試，無(wu)反射後(hou)反射過(guo)小時，再用2uS測(ce)試。
電源開(kai)關：儀器(qi)使(shi)用帶指示開(kai)關。
顯示(shi)屏(ping)：儀(yi)器(qi)用320×240點(dian)陣(zhen)式夜晶(jing)帶背光顯(xian)示屏(ping)，用於(yu)顯(xian)示(shi)操(cao)作(zuo)菜(cai)單(dan)、測(ce)試波形(xing)、測(ce)試結果(guo)、日期(qi)等內容(rong)。
微(wei)型(xing)打印機(ji)：本(ben)儀(yi)器(qi)采(cai)用4針(zhen)24行微型(xing)打印機(ji)。用於(yu)打印測(ce)試波形(xing)，測(ce)試數據及測(ce)試日期(qi)等。
SEL鍵：自檢(jian)鍵，按下(xia)此鍵打印機(ji)打印自檢數(shu)據參數，用於(yu)檢(jian)查(zha)打印機(ji)頭(tou)及(ji)驅動(dong)電(dian)路(lu)好(hao)壞。
LP鍵：上(shang)紙鍵，按下(xia)此鍵上(shang)紙機(ji)構(gou)動(dong)作(zuo)，打印針(zhen)停止(zhi)工(gong)作(zuo)。打印機(ji)更(geng)換打印紙時使(shi)用此(ci)鍵。
鍵盤功(gong)能(neng)介(jie)紹(shao)： 
本(ben)儀(yi)器(qi)使(shi)用14個輕觸按(an)鍵作(zuo)為控制(zhi)功(gong)能(neng)鍵，其中(zhong)有12個是雙功(gong)能(neng)鍵，鍵盤排(pai)列如圖（5）所示(shi)：

各(ge)鍵功(gong)能(neng)如(ru)下：
0-9數字(zi)鍵：上(shang)電復(fu)位(wei)時(shi)，數字鍵可以鍵入年(nian)、月(yue)、日，在(zai)測(ce)試狀態（非(fei)菜(cai)單(dan)狀(zhuang)態，下(xia)同(tong)），測(ce)故障、測(ce)全長(chang)，當屏(ping)幕(mu)左(zuo)上(shang)角顯(xian)示“鍵入速(su)度(du)000"時(shi)，用數(shu)字(zi)鍵可以鍵入已知速(su)度(du)值；在脈(mai)沖(chong)速(su)度(du)狀(zhuang)態，用數(shu)字(zi)鍵可以鍵入已知電(dian)纜長(chang)度(du)。總之，當屏幕(mu)提(ti)示(shi)需(xu)鍵入數據時，0-9鍵就為數字(zi)鍵，否(fou)則(ze)就為其它(ta)功(gong)能(neng)鍵。
單(dan)雙波形(xing)顯示(shi)選(xuan)擇鍵：按此(ci)鍵可以使屏幕(mu)由雙波形(xing)顯示(shi)轉(zhuan)為單(dan)波形(xing)顯示(shi)（雙波形(xing)顯示(shi)時(shi)，顯(xian)示屏(ping)上(shang)半部顯示(shi)2波形(xing)，下半部顯示(shi)1波形(xing)），並隨意轉(zhuan)換，本(ben)儀(yi)器(qi)上(shang)電（復(fu)位(wei)）後(hou)，默(mo)認(ren)為上(shang)下雙波形(xing)顯示(shi)、並(bing)對(dui)存儲區(qu)1（1波形(xing)）進行(xing)操(cao)作(zuo)形(xing)式，按此(ci)鍵壹次(ci)將(jiang)變(bian)為全屏(ping)幕(mu)單(dan)波形(xing)顯示(shi)方(fang)式。
該儀(yi)器(qi)有兩(liang)個存儲區(qu)，上(shang)電（復(fu)位(wei)）後(hou)，默(mo)認(ren)存儲區(qu)1存儲數據，當選(xuan)擇對(dui)存儲區(qu)2（波形(xing)2）進行(xing)操(cao)作(zuo)時，會(hui)在第(di)二(er)波形(xing)顯示(shi)區(qu)（屏幕(mu)上(shang)半部）出(chu)現(xian)前次(ci)采(cai)樣波形(xing)，屬於(yu)正(zheng)常(chang)現(xian)象，重按采樣鍵，本(ben)次(ci)采(cai)樣(yang)波形(xing)將取代上(shang)次存儲波形(xing)。
1/2上(shang)下波形(xing)選(xuan)擇鍵：儀器(qi)內(nei)部有兩(liang)個波形(xing)存儲區(qu)，用此(ci)鍵可隨意選(xuan)擇其(qi)中之壹為主進(jin)行(xing)操(cao)作(zuo)（包括(kuo)采樣(yang)、擴展、打印等）。儀器(qi)上(shang)電復(fu)位(wei)後(hou)，自動(dong)默(mo)認(ren)對存儲區(qu)1（1波形(xing)）進行(xing)操(cao)作(zuo)（雙屏顯(xian)示(shi)時屏(ping)幕(mu)下(xia)半部顯示(shi)存儲區(qu)1波形(xing)，波形(xing)前有“1"或“2"）。當按動(dong)此(ci)鍵後(hou)，將對(dui)存儲區(qu)2（波形(xing)2）進行(xing)操(cao)作(zuo)，再按此(ci)鍵又變為對存儲區(qu)1波形(xing)操(cao)作(zuo)，依(yi)次(ci)類(lei)推。
起(qi)點(dian)鍵：在測(ce)試狀態屏(ping)幕(mu)有波形(xing)顯示(shi)時(shi)，當(dang)光標(biao)移動(dong)到(dao)測(ce)試波形(xing)定標起(qi)點(dian)時(shi)，按(an)起(qi)點(dian)鍵確認(ren)波形(xing)計(ji)算起(qi)點(dian)。然(ran)後(hou)移動(dong)光標(biao)到波形(xing)終(zhong)點(dian)，顯(xian)示(shi)測(ce)試數據。當光標(biao)前後(hou)移動(dong)時(shi)，顯示數(shu)據隨之變化(hua)。
光標(biao)移動(dong)鍵（）（）：按此(ci)二(er)鍵豎(shu)形(xing)光標(biao)將下(xia)面(mian)的(de)波形(xing)向上(shang)或向下移(yi)動(dong)，用於(yu)波形(xing)的(de)重(zhong)和(he)合分離(li)。（）（）光標(biao)左右(you)移(yi)動(dong)鍵：按此(ci)二(er)鍵光標(biao)將向(xiang)左、向(xiang)右(you)移(yi)動(dong)。
快/慢鍵（←）（→）：按壹下(xia)，波形(xing)下方(fang)出(chu)現(xian)1時(shi)，（）（）鍵為快動(dong)鍵，按動(dong)壹次(ci)光標(biao)移動(dong)8個點(dian)陣(zhen)單(dan)位(wei)；當(dang)波形(xing)下方(fang)出(chu)現(xian)2時(shi)，（）（）鍵為慢動(dong)鍵，按動(dong)壹次(ci)光標(biao)移動(dong)1個點(dian)陣(zhen)單(dan)位(wei)。
采(cai)樣(yang)鍵：在測(ce)試狀態，按(an)采樣鍵後(hou)，儀器(qi)處(chu)於等待(dai)狀態。當(dang)低壓脈(mai)沖(chong)信號或高壓閃(shan)絡(luo)脈(mai)沖(chong)信號到來並(bing)觸發(fa)控制(zhi)電路(lu)之後(hou)，儀器(qi)開(kai)始工(gong)作(zuo)，記(ji)錄(lu)脈(mai)沖(chong)反射信號並處(chu)理(li)顯(xian)示，在(zai)重(zhong)新按動(dong)采(cai)樣鍵後(hou)，本(ben)次(ci)采(cai)樣(yang)波形(xing)將取代上(shang)次存儲波形(xing)。
故障測(ce)試時，應先重新調整輸(shu)入振幅大(da)小後(hou)再按采(cai)樣(yang)鍵。重復(fu)幾次操(cao)作(zuo)，直到(dao)顯(xian)示(shi)波形(xing)標準為止(zhi)。
擴展鍵：在非(fei)鍵入數狀(zhuang)態，此(ci)鍵為擴展顯(xian)示(shi)波形(xing)功(gong)能(neng)鍵。按此(ci)鍵將顯(xian)示波形(xing)橫向擴展13倍(bei)。每(mei)按壹次(ci)，波形(xing)擴展1倍(bei)，當(dang)顯示(shi)屏(ping)右(you)上(shang)角顯(xian)示01時(shi)，波形(xing)已擴展13倍(bei)。再按此(ci)鍵又恢復波形(xing)壓縮(suo)狀態。
速(su)度(du)鍵（）：回(hui)車與(yu)速(su)度(du)鍵為同(tong)壹鍵。當用數(shu)字(zi)鍵鍵入了(le)速(su)度(du)值與(yu)電纜長(chang)度(du)值時，必(bi)須按“"（回(hui)車）鍵對數(shu)據確認(ren)，否(fou)則(ze)機(ji)器(qi)處(chu)於等待(dai)狀態無(wu)法工(gong)作(zuo)（不采(cai)樣(yang)）。在(zai)測(ce)試狀態，測(ce)故障、測(ce)全長(chang)時，此(ci)鍵用於(yu)選(xuan)擇存入儀器(qi)中(zhong)的(de)四種(zhong)常(chang)用傳輸(shu)速(su)度(du)值。當連(lian)續按(an)此鍵，屏幕(mu)右(you)上(shang)角提(ti)示變(bian)為鍵入速(su)度(du)000值時，利用數(shu)字(zi)鍵可以鍵入被測(ce)試電纜的(de)傳輸(shu)值，鍵入完畢(bi)後(hou)按回(hui)車確認(ren)。
閃(shan)測(ce)設(she)定的(de)四種(zhong)電(dian)纜的(de)波速(su)為：
油浸(jin)紙(zhi)電(dian)纜： V=160m/Us 聚氯乙烯(xi)電纜： V=184m/uS
交聯聚乙(yi)烯電纜：V=172m/uS 不滴流(liu)電(dian)纜： V=144m/uS
如果需(xu)要(yao)重新(xin)確定起(qi)點(dian)光標(biao)，可以用擴展鍵將波形(xing)壓縮(suo)或擴展，然(ran)後(hou)移動(dong)光標(biao)到波形(xing)起(qi)點(dian)，按(an)起(qi)點(dian)確(que)認(ren)，移(yi)動(dong)光標(biao)，屏幕(mu)重(zhong)新(xin)顯(xian)示(shi)測(ce)試數據。
打印鍵（←）：當用數(shu)字(zi)鍵入年(nian)月(yue)日、速(su)度(du)、長(chang)度(du)時(shi)，若(ruo)鍵入數據錯誤(wu)，按(an)此(ci)鍵可以修(xiu)改(gai)錯(cuo)誤(wu)數(shu)據，按壹次(ci)由右(you)向(xiang)左修(xiu)改(gai)壹位(wei)，修(xiu)改(gai)後(hou)顯示(shi)數(shu)據為“0"，可重新(xin)鍵入正確(que)數(shu)據。打印功(gong)能(neng)：在(zai)測(ce)試狀態，按(an)該鍵打印機(ji)工(gong)作(zuo)。操(cao)作(zuo)時，應在正常(chang)測(ce)試波形(xing)顯示(shi)並(bing)確(que)定光標(biao)起(qi)點(dian)、光標(biao)終(zhong)點(dian)後(hou)再按打印鍵，打印機(ji)將(jiang)打印主操(cao)作(zuo)波形(xing)及測(ce)試數據。
復位(wei)鍵：為系統(tong)硬復位鍵，儀器(qi)無(wu)論(lun)在(zai)任(ren)何(he)狀態，按(an)此鍵將返回(hui)到(dao)主(zhu)菜(cai)單(dan)。
電(dian)源輸(shu)入插座(zuo)：本(ben)儀(yi)器(qi)使(shi)用50Hz、220V交(jiao)流(liu)電(dian)源供(gong)電，在充電(dian)和(he)測(ce)試路(lu) 徑(jing)時使用，插(cha)入電源即(ji)儀器(qi)處(chu)於充電(dian)狀(zhuang)態。充電(dian)時(shi)間(jian)根據電池剩余(yu)電(dian)量(liang)多(duo)少，充電(dian)時(shi)間(jian)不(bu)確(que)定。電池充滿(man)電(dian)後(hou)，儀器(qi)自(zi)動(dong)保護(hu)。
通(tong)過(guo)上(shang)面(mian)各部件及(ji)按(an)鍵功(gong)能(neng)介(jie)紹(shao)，基(ji)本(ben)上(shang)就可掌握測(ce)試儀使(shi)用方(fang)法。

操(cao)作(zuo)菜(cai)單(dan)介(jie)紹(shao)
開(kai)機(ji)，上(shang)電復(fu)位(wei)後(hou)顯示(shi)*畫(hua)面(mian)為版權(quan)標(biao)誌，如(ru)圖（6）
開(kai)機(ji)狀(zhuang)態示(shi)意圖。

當依(yi)次(ci)鍵入年(nian)月(yue)日自(zi)動(dong)進(jin)入第二(er)畫(hua)面(mian)，或者按(an)“復位"直(zhi)接(jie)進入工(gong)作(zuo)選(xuan)擇菜(cai)單(dan)。
“工(gong)作(zuo)選(xuan)擇"菜(cai)單(dan)
“脈(mai)沖(chong)"方(fang)式菜(cai)單(dan)，由主(zhu)菜(cai)單(dan)選(xuan)1則(ze)進入脈(mai)沖(chong)菜(cai)單(dan)。
根據實際(ji)測(ce)試需(xu)要(yao)原(yuan)則(ze)按鍵選(xuan)擇。
三(san)、測(ce)試顯示(shi)主界面(mian)介紹(shao)
主(zhu)界面(mian)分三(san)個區(qu)，上(shang)方(fang)為計(ji)算參數與(yu)結果(guo)區(qu)，如圖（7）所示(shi)。
中(zhong)間(jian)為波形(xing)顯示(shi)（采(cai)樣(yang)前為接線(xian)圖）區(qu)，根據需(xu)要(yao)可顯示(shi)壹條(tiao)或兩(liang)條(tiao)波形(xing)。同(tong)時(shi)顯(xian)示豎(shu)線光標(biao)和(he)時間(jian)刻(ke)度(du)。
下(xia)方(fang)為狀態和(he)日期(qi)顯示區(qu)，狀態顯(xian)示分別為脈(mai)沖(chong)直閃(shan)、沖(chong)1、沖(chong)2，在脈(mai)沖(chong)測(ce)全長(chang)和(he)測(ce)故障時(shi)則(ze)提示(shi)要(yao)選(xuan)擇速(su)度(du)，測(ce)速(su)度(du)則(ze)提示(shi)鍵入全長(chang)值。閃(shan)測(ce)狀態只提出(chu)速(su)度(du)選(xuan)擇。

第(di)三節 電(dian)纜故障測(ce)試步驟(zhou)及(ji)測(ce)試方(fang)式選(xuan)擇
在(zai)測(ce)定電纜故障之間(jian)，測(ce)試人員(yuan)除(chu)掌握本(ben)機(ji)性能(neng)與(yu)操(cao)作(zuo)方(fang)法之外(wai)，必須首先(xian)確定電纜故障的(de)性質(zhi)，以便(bian)采用適(shi)當的(de)工(gong)作(zuo)方(fang)法與(yu)測(ce)試方(fang)法。
首(shou)先(xian)用兆(zhao)歐(ou)或萬用表(biao)在(zai)電(dian)纜壹端(duan)測(ce)量(liang)各(ge)相(xiang)對地及相(xiang)之間(jian)的(de)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)，根據阻值高低確定是低阻短(duan)路(lu)或斷線開(kai)路(lu)，或者是(shi)高阻閃(shan)絡(luo)性故障。
當(dang)阻(zu)值低於200～300歐(ou)姆(mu)為低阻故障，0～幾(ji)十(shi)歐為短(duan)路(lu)故障，阻(zu)值*到無(wu)限(xian)大(da)為開(kai)路(lu)或斷線故障。是(shi)否(fou)斷線(xian)，還(hai)可以將電纜終(zhong)端相(xiang)連(lian)萬能用表(biao)在(zai)始(shi)端(duan)測(ce)量(liang)被(bei)短(duan)路(lu)接(jie)兩(liang)相(xiang)的(de)阻(zu)值加以確認。此(ci)類(lei)故障可用低脈(mai)沖(chong)法直(zhi)接(jie)測(ce)定。
當阻(zu)值很高(gao)（數(shu)百(bai)兆(zhao)和(he)千(qian)兆）且在(zai)作(zuo)高壓實驗(yan)時有瞬(shun)間(jian)放電(dian)現(xian)象，此類(lei)故障壹般(ban)稱(cheng)為閃(shan)絡(luo)性故障，可采用直(zhi)流(liu)高(gao)壓閃(shan)測(ce)法確(que)定。
高阻(zu)故障：阻(zu)值高於(yu)低阻故障，且(qie)在(zai)作(zuo)高壓試驗(yan)時直流高壓閃(shan)測(ce)法確(que)定。
按壹定方(fang)式粗略測(ce)試之後(hou)再進行(xing)確(que)定點(dian)，必(bi)要(yao)時需(xu)找(zhao)電纜路(lu)徑(jing)，丈(zhang)量(liang)電(dian)纜長(chang)度(du)或距離(li)。
第二(er)章(zhang) 低壓脈(mai)沖(chong)測(ce)試法
低壓脈(mai)沖(chong)測(ce)試法具(ju)有操(cao)作(zuo)簡單(dan)、波形(xing)易於識別、準確(que)度(du)高(gao)等(deng)特(te)點(dian)。對(dui)於(yu)短(duan)路(lu)、低阻、斷(duan)線(xian)故障用此(ci)法測(ce)試，可直接(jie)確(que)定故障距離(li)。即使無(wu)此類(lei)故障，壹般(ban)高(gao)壓閃(shan)絡(luo)測(ce)試前，也(ye)可以低壓脈(mai)沖(chong)法測(ce)電纜全長(chang)或速(su)度(du)，與(yu)閃(shan)絡(luo)測(ce)試波形(xing)比(bi)較(jiao)，通(tong)常(chang)會(hui)利於波形(xing)分析(xi)，達(da)到快速(su)確定故障點(dian)目(mu)的(de)。
*節 低壓脈(mai)沖(chong)測(ce)試基本(ben)原(yuan)理(li)
測(ce)量(liang)電(dian)纜故障時(shi)，電(dian)纜可視為壹條(tiao)均勻(yun)分布(bu)的(de)傳輸(shu)線(xian)理(li)論(lun)，在(zai)電(dian)纜壹端(duan)加脈(mai)沖(chong)電壓，則(ze)此脈(mai)沖(chong)按壹定的(de)速(su)度(du)（決定於電(dian)纜介質(zhi)電(dian)常(chang)數(shu)和(he)導磁系數）沿(yan)線傳輸(shu)，當(dang)脈(mai)沖(chong)遇到(dao)故障點(dian)（或阻抗不(bu)均(jun)勻(yun)點(dian)）就會(hui)發生(sheng)反射，用閃(shan)測(ce)儀記(ji)錄(lu)下(xia)發(fa)送(song)脈(mai)沖(chong)和(he)反射脈(mai)沖(chong)之間(jian)的(de)傳輸(shu)時(shi)間(jian)△T，則(ze)可按已知的(de)傳輸(shu)速(su)度(du)V來計(ji)算出(chu)故障的(de)距離(li)Lx，Lx=V·△T/2，例(li)圖（8）所示(shi)：

測(ce)全長(chang)則(ze)可利用終(zhong)端反射脈(mai)沖(chong)：L=V·T/2
同(tong)樣(yang)已知全(quan)長(chang)可測(ce)出(chu)傳輸(shu)速(su)度(du)：V=2L/T
低壓脈(mai)沖(chong)測(ce)試法測(ce)全長(chang)
測(ce)全長(chang)操(cao)作(zuo)步驟(zhou)如(ru)下(xia)：開(kai)機(ji)（上(shang)電復(fu)位(wei)）壹復(fu)位(wei)（主(zhu)菜(cai)單(dan)）壹鍵1（工(gong)作(zuo)選(xuan)擇菜(cai)單(dan)）壹鍵1（脈(mai)沖(chong)菜(cai)單(dan)）壹鍵1（測(ce)全長(chang)），然後(hou)根據屏幕(mu)顯(xian)示(shi)接(jie)線(xian)圖接線(xian)，如(ru)圖（9）所示(shi)：

使(shi)用脈(mai)沖(chong)法測(ce)試時，按(an)圖連(lian)接後(hou)，根據所測(ce)電纜類(lei)型(xing)，選(xuan)擇合適(shi)傳輸(shu)速(su)度(du)和(he)脈(mai)寬(kuan)，調節輸(shu)入振幅電位(wei)器(qi)1/3位(wei)置，按(an)采(cai)樣鍵即可。
根據顯示(shi)波形(xing)大(da)小，調節幅(fu)度(du)電(dian)位(wei)器(qi)，重(zhong)新(xin)采(cai)樣(yang)。當0.2us脈(mai)寬(kuan)輸入振幅zui大(da)還反射波時，選(xuan)用2us脈(mai)沖(chong)測(ce)試。為了(le)便(bian)於比(bi)較(jiao)可分別(bie)接(jie)故障相(xiang)與(yu)另壹好(hao)相(xiang)作(zuo)兩(liang)次(ci)采(cai)樣(yang)，如(ru)前圖六(liu)所示(shi)。按(an)（）（）鍵可選(xuan)單(dan)波形(xing)或雙波形(xing)顯示(shi)，用1/2鍵改變(bian)操(cao)作(zuo)區(qu)，選(xuan)擇當(dang)前波形(xing)1或2。完成采(cai)樣(yang)後(hou)，移動(dong)光標(biao)定起(qi)點(dian)，再移動(dong)光標(biao)到波形(xing)反射點(dian)，此(ci)時(shi)屏(ping)幕(mu)所(suo)顯(xian)示(shi)的(de)長(chang)度(du)就是電(dian)纜全長(chang)值。對於(yu)短(duan)電纜將終(zhong)端短(duan)路(lu)測(ce)全長(chang)，終(zhong)端反射改為負(fu)脈(mai)沖(chong)，定光標(biao)時，對(dui)終(zhong)端開(kai)路(lu)電(dian)纜以發射正脈(mai)沖(chong)上(shang)升沿(yan)與(yu)基線(xian)交(jiao)點(dian)為準定光標(biao)起(qi)點(dian)，以反射正脈(mai)沖(chong)上(shang)升沿(yan)與(yu)基線(xian)交(jiao)點(dian)定光標(biao)終(zhong)點(dian)。
第(di)三(san)節 低壓脈(mai)沖(chong)測(ce)試法測(ce)故障
脈(mai)沖(chong)法測(ce)故障與(yu)測(ce)全長(chang)的(de)測(ce)試原(yuan)理(li)相(xiang)同(tong)，操(cao)作(zuo)方(fang)法也(ye)基(ji)本(ben)相(xiang)同(tong)。當(dang)脈(mai)沖(chong)菜(cai)單(dan)出(chu)現(xian)時(shi)，可選(xuan)鍵1（沒全長(chang)），也可選(xuan)鍵2（測(ce)故障）。接(jie)線(xian)圖與(yu)圖（9）相同(tong)，連(lian)接電(dian)纜接被測(ce)電纜故障相(xiang)同(tong)，其(qi)它(ta)操(cao)作(zuo)方(fang)法也(ye)與(yu)測(ce)全長(chang)相同(tong)。
如(ru)果(guo)是低阻、斷(duan)路(lu)故障，測(ce)試波形(xing)如圖（10）所示(shi)：

定光標(biao)時，發(fa)射正脈(mai)沖(chong)上(shang)升沿(yan)與(yu)基線(xian)交(jiao)點(dian)定為起(qi)點(dian)，反射負(fu)脈(mai)沖(chong)下降(jiang)沿(yan)與(yu)基線(xian)交(jiao)瞇(mi)定為終(zhong)點(dian)。如(ru)果(guo)是(shi)短(duan)線故障，測(ce)試波形(xing)，定光標(biao)方(fang)法與(yu)測(ce)全長(chang)時相(xiang)同(tong)。
第(di)四節 低壓脈(mai)沖(chong)測(ce)試法測(ce)速(su)度(du)
測(ce)電波在電纜中傳輸(shu)速(su)度(du)時(shi)，必(bi)須知道(dao)電纜全長(chang)。操(cao)作(zuo)方(fang)法如(ru)下(xia)：開(kai)機(ji)（上(shang)電復(fu)位(wei)）——復(fu)位（主菜(cai)單(dan)）—壹鍵1（工(gong)作(zuo)選(xuan)擇菜(cai)單(dan)）—壹鍵1（脈(mai)沖(chong)菜(cai)單(dan)）—壹鍵3（測(ce)速(su)度(du)）,然(ran)後(hou)按圖（9）接線(xian)，鍵入全長(chang)值並回(hui)車。采樣(yang)波形(xing)、定光標(biao)方(fang)法與(yu)測(ce)全長(chang)時相(xiang)同(tong)，當(dang)分(fen)別定光標(biao)起(qi)點(dian)、終(zhong)點(dian)後(hou)，屏幕(mu)左(zuo)上(shang)角將(jiang)顯示(shi)測(ce)試速(su)度(du)值。
第三(san)章(zhang) 沖(chong)擊高(gao)壓閃(shan)測(ce)法（沖(chong)閃(shan)法）
沖(chong)閃(shan)法基(ji)本(ben)原(yuan)理(li)
沖(chong)閃(shan)法適(shi)用於(yu)測(ce)試高阻(zu)泄漏性故障。對(dui)其(qi)他類(lei)型(xing)高(gao)低阻故障也(ye)可用沖(chong)閃(shan)法測(ce)試。
測(ce)試方(fang)法與(yu)直閃(shan)法相(xiang)同(tong)，只不過(guo)給電纜不是加直流高壓而(er)是通(tong)過(guo)球間(jian)隙(xi)施(shi)加沖(chong)擊電(dian)壓，使故障點(dian)擊(ji)穿(chuan)放電(dian)，而(er)產生(sheng)反射電壓（或者電(dian)流），由儀(yi)器(qi)記(ji)錄(lu)這壹瞬(shun)間(jian)狀(zhuang)態的(de)過(guo)程，通(tong)過(guo)波形(xing)分析(xi)來測(ce)定故障點(dian)的(de)位(wei)置。它(ta)是(shi)測(ce)高阻及(ji)閃(shan)絡(luo)性故障的(de)主(zhu)要(yao)方(fang)法。同(tong)樣(yang)取樣方(fang)式也分(fen)電(dian)壓取樣和(he)電流取樣，當(dang)然細(xi)分還(hai)可分為和(he)低端電(dian)壓取樣，電(dian)感(gan)與(yu)電阻(zu)取樣，始(shi)端與(yu)終(zhong)端取樣等(deng)。由於(yu)低端電(dian)流(liu)取樣接(jie)線簡便(bian)、可靠安(an)全(quan)、波形(xing)易於識別，所以推薦電流取樣法。
第(di)二(er)節 電(dian)流(liu)取樣沖(chong)閃(shan)法
閃(shan)沖(chong)法操(cao)作(zuo)方(fang)法如(ru)下(xia)：開(kai)機(ji)（上(shang)電復(fu)位(wei)）——復(fu)位（主菜(cai)單(dan)）——鍵1（工(gong)作(zuo)選(xuan)擇菜(cai)單(dan)）——鍵3（沖(chong)閃(shan)1）.根據工(gong)作(zuo)選(xuan)擇菜(cai)單(dan)提(ti)示(shi)，沖(chong)閃(shan)分(fen)為：沖(chong)閃(shan)1和(he)沖(chong)閃(shan)2兩(liang)種(zhong)方(fang)式。其中(zhong)閃(shan)沖(chong)1是正(zheng)脈(mai)觸發(fa)方(fang)式（如電(dian)流(liu)取樣），沖(chong)閃(shan)2是(shi)負(fu)脈(mai)沖(chong)觸發(fa)方(fang)式（如電(dian)壓取樣）。按(an)推薦選(xuan)用電(dian)流(liu)取樣方(fang)式，所以按鍵3進入沖(chong)閃(shan)1工(gong)作(zuo)模式。
進入沖(chong)閃(shan)後(hou)，按屏(ping)幕(mu)提(ti)示(shi)接(jie)線(xian)圖連(lian)接接(jie)線和(he)取樣器(qi)如(ru)圖（11）所示(shi)：

圖（11）中：T1、為0～250V1-2KVA調壓器(qi)
T2、 為高壓變壓器(qi)，功(gong)率1-3KVA
D、 為高壓整流(liu)矽堆(dui)，大(da)於150KV/0.2A（高(gao)壓實驗(yan)變壓器(qi)已內置）
R 、 為限(xian)流(liu)電阻（可不要(yao)）
C 、 為高壓脈(mai)沖(chong)電容(rong)，容量(liang)1∽8μF，耐(nai)壓大(da)於10KV
V 、 為直流(liu)電(dian)壓表
B、 為電流(liu)取樣器(qi)（配套附(fu)件(jian)）
以上(shang)設(she)備(bei)除電(dian)流(liu)取樣器(qi)B之外(wai)，其余(yu)為外(wai)配設(she)備(bei)，可用圖（11）分體(ti)高壓試驗(yan)設(she)備(bei)，也可用壹體(ti)化(hua)高(gao)壓電源（註(zhu)意必須將高(gao)壓放電(dian)棒與(yu)高壓地線連(lian)接好(hao)方(fang)可試驗(yan)）。
根據接線(xian)圖連(lian)接完畢(bi)後(hou)，再用速(su)度(du)鍵選(xuan)擇傳輸(shu)速(su)度(du)或重新鍵入速(su)度(du)值。將輸(shu)入振幅旋鈕(niu)旋(xuan)至1/3左右(you)，然(ran)後(hou)按采(cai)樣(yang)鍵，儀器(qi)進(jin)入等待(dai)采樣(yang)狀(zhuang)態。
調(tiao)整球隙、輸入振幅旋鈕(niu)後(hou)，然後(hou)通(tong)電對故障電(dian)纜升壓。電壓升到(dao)壹定值，故障點(dian)發(fa)生(sheng)閃(shan)絡(luo)放電(dian)。儀器(qi)記(ji)錄(lu)下(xia)波形(xing)。根據波形(xing)大(da)小可重新(xin)調(tiao)整輸(shu)入振幅，重復(fu)采(cai)樣。沖(chong)閃(shan)測(ce)試波形(xing)如圖（12）所示(shi)： 

波形(xing)特(te)點(dian)分(fen)析(xi)如下(xia)：*個小正脈(mai)沖(chong)為球間(jian)隙(xi)擊(ji)穿(chuan)而(er)故障點(dian)沒有放電(dian)時電(dian)容器(qi)對(dui)電(dian)纜放電(dian)的(de)電(dian)流(liu)脈(mai)沖(chong)（輸入幅度(du)小或者儀(yi)器(qi)的(de)靈敏度(du)低時*個小脈(mai)沖(chong)可能不(bu)出(chu)現(xian)，第(di)二(er)個大(da)的(de)正(zheng)脈(mai)沖(chong)為故障點(dian)擊(ji)穿(chuan)之後(hou)形(xing)成的(de)短(duan)路(lu)電(dian)流脈(mai)沖(chong)，其次(ci)為由該(gai)放電(dian)電流(liu)脈(mai)沖(chong)形(xing)成的(de)壹次(ci)、二(er)次(ci)等多(duo)次反射電流(liu)脈(mai)沖(chong)，由於(yu)衰減(jian)而(er)幅度(du)逐(zhu)漸(jian)減(jian)小。由於(yu)故障特(te)性的(de)差(cha)異(yi)和(he)電容電壓與(yu)引(yin)線(xian)電(dian)感(gan)的(de)存在(zai)而(er)在反射正脈(mai)沖(chong)的(de)前沿(yan)出(chu)現(xian)負(fu)反沖(chong)，計(ji)算故障距離(li)時起(qi)點(dian)為*個放電(dian)正脈(mai)沖(chong)的(de)前沿(yan)，終(zhong)點(dian)為*次反射正脈(mai)沖(chong)之前的(de)負(fu)脈(mai)沖(chong)前沿(yan)。（發射脈(mai)沖(chong)為正脈(mai)沖(chong)，反射脈(mai)沖(chong)也為正脈(mai)沖(chong)但前沿(yan)有負(fu)反沖(chong)。因故障性質(zhi)等(deng)原(yuan)因(yin)，負(fu)反沖(chong)大(da)小有差別，但遠(yuan)小於正脈(mai)沖(chong)的(de)幅(fu)值）
定光標(biao)時，起(qi)點(dian)光標(biao)選(xuan)擇在(zai)正脈(mai)沖(chong)上(shang)升沿(yan)與(yu)基線(xian)交(jiao)點(dian)處(chu)，終(zhong)點(dian)光標(biao)選(xuan)擇在(zai)負(fu)反沖(chong)下降(jiang)沿(yan)與(yu)基線(xian)交(jiao)點(dian)處(chu)。如無(wu)負(fu)脈(mai)沖(chong)出(chu)現(xian)，就將終(zhong)點(dian)光標(biao)定在反射脈(mai)沖(chong)的(de)上(shang)升沿(yan)與(yu)基線(xian)的(de)交(jiao)點(dian)處(chu)，故障顯(xian)示(shi)距離(li)因此將(jiang)增(zeng)大(da)10%左右(you)。定點(dian)時(shi)，應將粗測(ce)距離(li)壓縮(suo)後(hou)確定參考(kao)點(dian)位(wei)置。）
第(di)四章(zhang) 直流(liu)高壓測(ce)試法（直(zhi)閃(shan)法）
直(zhi)閃(shan)法適(shi)用於(yu)測(ce)量(liang)高(gao)阻(zu)閃(shan)絡(luo)性故障。實(shi)際(ji)測(ce)試時，其(qi)操(cao)作(zuo)方(fang)法和(he)接線圖與(yu)沖(chong)閃(shan)法基(ji)本(ben)相(xiang)同(tong)（無(wu)球隙(xi)）。直閃(shan)法也(ye)分(fen)：電壓取樣和(he)電流取樣兩(liang)種(zhong)方(fang)式。我們推薦使用電(dian)流(liu)取樣方(fang)式。
當故障相(xiang)施(shi)加直流高壓到壹定值後(hou)，故障點(dian)則(ze)被擊(ji)穿(chuan)而(er)短(duan)路(lu)放電(dian)，此時(shi)由故障點(dian)產生(sheng)壹反相(xiang)躍變(bian)電壓V10該電(dian)壓沿(yan)電纜傳輸(shu)，當(dang)傳到(dao)始(shi)端(duan)後(hou)，始端(duan)的(de)阻(zu)抗(kang)大(da)於電(dian)纜特(te)性阻(zu)抗(kang)，所(suo)以發生下(xia)反射2V10，此電(dian)壓又繼續向後(hou)傳輸(shu)，到(dao)故障點(dian)後(hou)被短(duan)路(lu)，所(suo)以反射電壓-2V1,經過(guo)壹段(duan)時(shi)間(jian)負(fu)反射電壓又傳壹始(shi)端(duan)，這樣往返數(shu)次(ci)，直(zhi)到閃(shan)絡(luo)放電(dian)結束(shu)而(er)中止(zhi)。
*節 直(zhi)閃(shan)法測(ce)試連(lian)線與(yu)操(cao)作(zuo)步驟(zhou)
依(yi)據下圖（13）將高(gao)壓設(she)備(bei)測(ce)試儀與(yu)被測(ce)電纜相連(lian)。

圖中： T1、為3KVA/0.22KV調壓器(qi)
T2、為3KVA/50KV交直(zhi)流(liu)高(gao)壓變壓器(qi)
D、為高壓整流(liu)矽堆(dui)，大(da)於150KV/0.2A
C 、為高壓脈(mai)沖(chong)電容(rong)，容量(liang)1∽2μF，耐(nai)壓小於40KV
V 、為電壓表、 R1和(he)R2為分壓器(qi)
B、為電流(liu)取樣器(qi)（配套附(fu)件(jian)）
以上(shang)設(she)備(bei)除電(dian)流(liu)取樣器(qi)B之外(wai)，其余(yu)為外(wai)配設(she)備(bei)。（註意(yi)必(bi)須將高(gao)壓放電(dian)棒與(yu)高壓地線連(lian)接好(hao)方(fang)可試驗(yan)）
接(jie)好(hao)線(xian)路(lu)後(hou)，開(kai)機(ji)使(shi)儀(yi)器(qi)處(chu)於等待(dai)狀態（采(cai)樣）此前操(cao)作(zuo)與(yu)脈(mai)沖(chong)法相(xiang)同(tong)。
調(tiao)（T1）檔(dang)位，逐漸(jian)升高(gao)直流(liu)電壓，當發(fa)現(xian)電(dian)壓或電流表(biao)擺動(dong)時(shi)則(ze)說明(ming)故障點(dian)閃(shan)絡(luo)放電(dian)，儀器(qi)會(hui)顯示(shi)出(chu)波形(xing)，調入幅度(du)反復(fu)多(duo)次采(cai)樣，直(zhi)到收到(dao)的(de)波形(xing)*為止(zhi)。
采用直(zhi)閃(shan)法測(ce)試時，將(jiang)操(cao)作(zuo)箱(xiang)電(dian)流(liu)繼電器(qi)倍(bei)率放在(zai)×1或×2檔，保證(zheng)放電(dian)壹次(ci)即(ji)保護(hu)，采(cai)樣波形(xing)即可，定點(dian)時(shi)要(yao)連(lian)續的(de)放電(dian)，再將電(dian)流(liu)繼(ji)電器(qi)倍(bei)率放在(zai)OFF檔。
第(di)二(er)節 高(gao)壓閃(shan)絡(luo)測(ce)試波形(xing)
1.故障在(zai)測(ce)試始端(duan)的(de)波形(xing) 詳見下圖（14）所示(shi)：

2.故障在(zai)中(zhong)間(jian)段(duan)的(de)波形(xing)

3.故障在(zai)測(ce)試終(zhong)端的(de)波形(xing)

圖（14）故障在(zai)測(ce)試始端(duan)的(de)波形(xing)
4.閃(shan)絡(luo)法測(ce)試波形(xing)的(de)變(bian)化(hua)規律
下圖（15）是我(wo)們根據閃(shan)絡(luo)測(ce)試法的(de)波形(xing)而(er)繪制(zhi)的(de)變(bian)化(hua)規律圖，只要(yao)仔(zai)細(xi)觀(guan)查(zha)分(fen)析(xi)就可看出(chu)它(ta)們中的(de)變(bian)化(hua)規律。希(xi)望(wang)使用者壹定要(yao)掌握標(biao)準波形(xing)以及它(ta)們在不(bu)同(tong)區(qu)間(jian)的(de)變(bian)化(hua)規律。

圖（15）閃(shan)絡(luo)法測(ce)試波形(xing)的(de)變(bian)化(hua)規律圖
第三(san)節 高(gao)壓閃(shan)絡(luo)測(ce)試註意(yi)事(shi)項(xiang)
高(gao)壓閃(shan)絡(luo)測(ce)試時電(dian)壓高達(da)數萬伏，因(yin)此(ci)操(cao)作(zuo)中必(bi)須按高(gao)壓操(cao)作(zuo)規程進行。還(hai)要(yao)特(te)別(bie)註(zhu)意(yi)以下幾項(xiang)： 
高壓閃(shan)絡(luo)測(ce)試時，高(gao)壓試驗(yan)設(she)備(bei)應由專(zhuan)業人員(yuan)操(cao)作(zuo)，儀器(qi)接(jie)線(xian)，測(ce)試中在(zai)改變(bian)接線、調整球隙間(jian)距時務(wu)必斷(duan)電，並對(dui)電(dian)容(rong)器(qi)和(he)電纜充分(fen)放電(dian)，再與(yu)地線搭(da)接。
測(ce)試前，應先對故障電(dian)纜加壓放電(dian)，確保各(ge)連(lian)接線(xian)點(dian)無(wu)放電(dian)現(xian)象，所加電壓已使故障點(dian)發(fa)生(sheng)閃(shan)絡(luo)放電(dian)，然後(hou)開(kai)始投入儀器(qi)測(ce)試。
用閃(shan)測(ce)法測(ce)高阻故障時(shi)，使(shi)用者且(qie)勿(wu)對計(ji)算機(ji)進(jin)行(xing)其(qi)它(ta)操(cao)作(zuo)，避免(mian)選(xuan)在“低壓脈(mai)沖(chong)"狀態進(jin)行高壓閃(shan)絡(luo)測(ce)試。測(ce)試儀連(lian)線應遠(yuan)離(li)高壓線。
正(zheng)確接地，即將(jiang)高(gao)壓變壓器(qi)（T2）高(gao)壓尾、操(cao)作(zuo)箱(xiang)（T1）地線、電(dian)流(liu)取樣器(qi)（JS）地線端(duan)分(fen)別與(yu)被測(ce)電纜鎧裝(zhuang)連(lian)在同(tong)壹點(dian)上(shang)（同(tong)壹點(dian)接(jie)地）。所有連(lian)接點(dian)不(bu)能(neng)出(chu)現(xian)打火(huo)現(xian)象，以確保測(ce)試成功(gong)及(ji)設(she)備(bei)、人身安(an)全(quan)。
從測(ce)試儀安(an)全考(kao)慮(lv)，閃(shan)絡(luo)測(ce)試時工(gong)作(zuo)菜(cai)單(dan)壹定要(yao)選(xuan)擇在(zai)沖(chong)閃(shan)或直閃(shan)狀(zhuang)態，如(ru)果錯誤(wu)選(xuan)擇脈(mai)沖(chong)狀態進(jin)行高壓閃(shan)絡(luo)測(ce)試，將可能損(sun)壞測(ce)試儀內(nei)部的(de)低壓脈(mai)沖(chong)電路(lu)。
測(ce)試中避(bi)免(mian)使(shi)用交(jiao)流(liu)電(dian)源對(dui)前端(duan)（閃(shan)測(ce)儀）和(he)計(ji)算機(ji)充電(dian)，使(shi)其與(yu)被測(ce)交流電(dian)源*脫(tuo)離(li)。
高壓閃(shan)絡(luo)法測(ce)試完畢(bi)後(hou)，必須反復(fu)對電(dian)容器(qi)及(ji)電(dian)纜放電(dian)，方(fang)可用低壓脈(mai)沖(chong)法重(zhong)新(xin)對電(dian)纜進行測(ce)試操(cao)作(zuo)。