變頻(pin)介(jie)質損耗測試儀(yi)

壹(yi)、概說(shuo)
SXJS-IV型(xing)系列智能化(hua)介(jie)質損耗測試儀(yi)是壹(yi)種*的測量介(jie)質損耗（ tgδ）和電容容量（ Cx ）的儀(yi)器，用於工頻高壓下，測量各種(zhong)絕(jue)緣(yuan)材料(liao)、絕(jue)緣(yuan)套管、電(dian)力(li)電纜、電容器、互(hu)感(gan)器(qi)、變壓器(qi)等高壓設(she)備的(de)介(jie)質損耗（ tgδ）和電容容量（ Cx ）。
二、技(ji)術(shu)指(zhi)標
１．環(huan)境溫度：０～４0℃（液(ye)晶(jing)屏應(ying)避(bi)免長時日照(zhao)）
２．相對濕(shi)度(du)：３0％～７0％
３．供(gong)電電源：電(dian)壓：２２０Ｖ±１0％，頻(pin)率(lv)：５0±１Ｈz
４．外(wai)形(xing)尺寸：長×寬×高＝490mm×300mm×390mm
５．重量：約(yue)18Ｋg
６．輸(shu)出(chu)功率(lv)：1ＫVA
７．顯示(shi)分辨率(lv)：４位(wei)
８．測量範圍(wei)：
介(jie)質損耗（tgδ）：０-50％ 
電容容量（Cx）和加(jia)載(zai)電壓：
２.5ＫＶ檔：≤ ３00nＦ（ ３00000ｐＦ）
３ＫＶ檔：≤２00nＦ（ ２00000ｐＦ）
５ＫＶ檔：≤ ７6nＦ（ ７6000ｐＦ）
７.５ＫＶ檔：≤ ３4nＦ（ ３4000ｐＦ）
１０ＫＶ檔：≤ ２0nＦ（ ２0000ｐＦ）
９．基本測量誤差(cha)：
介(jie)質損耗（tgδ）： １％±０.０7％（加(jia)載(zai)電流(liu)２０μＡ～５00ｍＡ）正接
介(jie)質損耗（tgδ）： ２％±０.０9％（加(jia)載(zai)電流(liu)　５μＡ～２0μＡ）反(fan)接
電(dian)容容量 （ Cx）：１.５％±１.５pＦ
三、結構(gou)
儀(yi)器為(wei)升壓與測量壹體(ti)化(hua)結(jie)構(gou)，輸(shu)出(chu)電壓２.5KＶ～１０ＫＶ五檔可(ke)調(tiao)，以(yi)適(shi)應(ying)各(ge)種需(xu)要(yao)，在(zai)測量時無(wu)需(xu)任(ren)何(he)外部(bu)設(she)備。接線(xian)與ＱＳＩ電(dian)橋(qiao)相似(si)，但(dan)比(bi)其方便。
圖(tu)壹為(wei)儀(yi)器操(cao)作面板圖(tu)，圖(tu)二為(wei)儀(yi)器接線(xian)端(duan)面(mian)圖(tu)。
⑴ 顯示(shi)窗(chuang)————————液(ye)晶(jing)顯示(shi)屏。
⑵ 試(shi)驗(yan)電壓選擇(ze)開關(guan)———當(dang)開關(guan)置(zhi)於“關(guan)"時，儀(yi)器無(wu)高(gao)壓輸(shu)出(chu)。
⑶ 操作(zuo)鍵盤———————選擇(ze)測量方式(shi)、起動(dong)、停止、打(da)印(yin)等操作。
⑷ 電(dian)源插(cha)座——————— 保(bao)險(xian)絲(si)用５Ａ。
⑸ 電源開關(guan)———————電(dian)源通斷(duan)。
⑹ 起動(dong)燈————————指示(shi)高(gao)壓輸(shu)出(chu)。
⑺ 打(da)印(yin)機————————打(da)印(yin)測試結(jie)果(guo)。
★★★★⑻ 接地端(duan)子(zi)——————使用前，必須將該(gai)端(duan)子(zi)可(ke)靠(kao)接地！！！
★⑼ 測量電流(liu)輸(shu)入端(duan)ＩＸ———有(you)兩個出(chu)線頭(tou)，中心(xin)頭(tou)（紅(hong)色(se)，有(you)ＣＸ標記(ji)）應(ying)與被 試品(pin)壹(yi)端(duan)相接，屏蔽(bi)頭(tou)（黑色(se)，有(you)Ｅ標記(ji)）是儀(yi)器內(nei)部(bu)高(gao)壓輸(shu)出(chu) 壹個參考(kao)端(duan)，在(zai) 正(zheng)接法(fa)測量時應(ying)接地；在(zai)反(fan)接法(fa)測量時應(ying)浮空(kong)；外接法(fa)參見(jian)“外(wai)接高(gao)壓法(fa)"。
★⑽ 標準(zhun)電流(liu)輸(shu)入端(duan)ＩＮ———僅(jin)當外接標準(zhun)電容器進行(xing)測量時才用，該(gai)端(duan)應(ying)與外(wai)接 標準(zhun)電容器 壹端(duan)相連(lian)。ＩＮ必須小於１00ｍＡ！！！
⑾ 測量高壓輸(shu)出(chu)端(duan)ＵＨ——只(zhi)有(you)壹(yi)個大鐵夾出(chu)線頭(tou)（有(you)ＵＨ標記(ji)），與被試品(pin)壹(yi)端(duan) 相接。

四(si)、工作(zuo)原(yuan)理(li)
儀(yi)器測量線路包括(kuo)壹(yi)路標準(zhun)回路和(he)壹(yi)路測試回路，如(ru)圖(tu)三所示(shi)。
標準(zhun)回路由(you)內(nei)置(zhi)高(gao)穩定度(du)標準(zhun)電容器與標準(zhun)電阻(zu)網絡組成，由計算(suan)機實時采集標準(zhun)回路電(dian)流(liu)與測試回路的(de)電(dian)流(liu)幅值及(ji)其相位(wei)差(cha)，並由之算(suan)出(chu)被測試品(pin)的(de)電容容值（Cx ）和其介(jie)質損耗（tg）。
數據采集電路全部采用高穩定度(du)器(qi)件，采集板和(he)采集計算(suan)機被鐵盒(he)*浮空(kong)屏蔽(bi)，儀(yi)器的(de)外殼接地屏蔽(bi)；另(ling)外使用了光導數據(ju)、浮空(kong)地、大(da)面積(ji)地、單點(dian)地、數(shu)字濾波(bo)等抗(kang)幹擾(rao)技(ji)術(shu)，加(jia)之計(ji)算(suan)機對數百(bai)個電網周期(qi)的(de)數(shu)據進(jin)行(xing)處理，故(gu)測量結果(guo)穩定、精(jing)確、可(ke)靠(kao)。
由圖(tu)三可(ke)見(jian)，儀(yi)器高(gao)壓變壓器(qi)的高壓側(ce)和測量線路都(dou)是(shi)浮地的(de)，用戶可(ke)根(gen)據不同(tong)的(de)測量對象(xiang)和測量需要(yao)，靈活(huo)地采用多種(zhong)接線(xian)方式(shi)。如采用“正接線(xian)法"進(jin)行(xing)測量時，可(ke)將(jiang)“Ｅ"點接地；而當(dang)采用“反(fan)接線(xian)法"進(jin)行(xing)測量時，可(ke)將(jiang)“UH"點接地，而將(jiang)E點(dian)浮空(kong)。
圖(tu)中除(chu)測試品(pin) Cx 外(wai)，其余為(wei)本儀(yi)器。細(xi)線(xian)框內(nei)部(bu)分對(dui)儀(yi)器外(wai)殼能承受(shou)１5ＫＶ工(gong)頻高(gao)壓５分鐘(zhong)，額定(ding)耐壓１0ＫＶ。儀(yi)器內(nei)附(fu)標準(zhun)電容ＣＮ，名義值(zhi)為５0ＰＦ，tgδ≤０.0001，耐(nai)壓１0ＫＶ。高(gao)壓變壓器(qi)，額定(ding)輸(shu)出(chu)功率(lv)為(wei)1ＫＶＡ。
★“Ｅ"點為儀(yi)器的(de)內(nei)屏蔽(bi)與測量電纜的屏蔽(bi)層(ceng)相連(lian)，不是(shi)大(da)地，與儀(yi)器的(de)外殼也(ye)不連(lian)通！！！
五、使用方法(fa)
★★★ 安(an)全操作註意(yi)事(shi)項
１．使用時必須將儀(yi)器的(de)接地端(duan)子(zi)可(ke)靠(kao)的接地。
２．只(zhi)有(you)關(guan)閉儀(yi)器電(dian)源，試(shi)驗電壓選擇(ze)開關(guan)置(zhi)於“關(guan)"位(wei)置(zhi)時，接觸(chu)儀(yi)器的(de)後部及(ji)其測 量線纜與被試品(pin)才被認為(wei)是(shi)安全的。
３．儀(yi)器在(zai)測量時，嚴禁操作(zuo)“試(shi)驗(yan)電壓"選擇(ze)開關(guan)。
４．★正(zheng)接線(xian)法ＵＨ端(duan)為(wei)高(gao)電壓，反(fan)接線(xian)法ＩＸ端(duan)為(wei)高(gao)電壓，使用時必須根據(ju)實(shi)際情(qing) 況，將(jiang)帶高(gao)壓的(de)線纜與地保(bao)持足(zu)夠的(de)距離。
5．不得更換(huan)不符合(he)面(mian)板指(zhi)示(shi)值(zhi)的保險(xian)絲(si)管，內(nei)部(bu)壹(yi)只(zhi)保(bao)險(xian)絲(si)為(wei)：0.５Ａ
６．使用時盡(jin)可(ke)能用廠家(jia)隨(sui)儀(yi)器提(ti)供(gong)的線纜以(yi)確保(bao)測量準確度(du)。
７．操(cao)作(zuo)鍵(jian)盤
備用—————不用。
快(kuai)測—————快(kuai)速(su)測量，無(wu)抗(kang)幹擾(rao)功(gong)能。
抗(kang)擾—————抗(kang)幹擾(rao)測量。
正接—————正(zheng)接法(fa)測量。
打(da)印(yin)—————在測試結(jie)果(guo)出(chu)來(lai)後，打(da)印(yin)測試數(shu)據(ju)。
反(fan)接—————反(fan)接法(fa)測量。
起動(dong)—————起動(dong)高壓，開始測量。
外接—————外(wai)接法(fa)測量。也(ye)用來(lai)選擇(ze)外接標準(zhun)電容的容量。
停止(zhi)—————可(ke)以(yi)在(zai)測試過(guo)程(cheng)中，中斷(duan)測量。
測試前(qian)先(xian)用"試驗(yan)電壓"開關(guan)選好(hao)輸(shu)出(chu)電壓，然(ran)後用“操作(zuo)鍵盤"選擇(ze)好(hao)測試方式(shi)。儀(yi)器首先自檢（顯示(shi)屏、光電通訊、內(nei)存(cun)、操(cao)作(zuo)鍵(jian)、數模轉換(huan)、電網頻率(lv)．．．），自(zi)檢通過(guo)後(hou)，進入主(zhu)目(mu)錄。這時按(an)屏幕(mu)提(ti)示(shi)即可(ke)完成測試。
進(jin)入測量狀(zhuang)態後(hou)，用戶隨(sui)時可(ke)用“停止(zhi)"鍵退(tui)出(chu)測量狀(zhuang)態。
做(zuo)正(zheng)、反(fan)接測量時無(wu)須(xu)人工(gong)幹預(yu)。
★做(zuo)外(wai)接方式(shi)測量時，中途(tu)會(hui)顯示(shi)“請關(guan)閉外接高(gao)壓！"並(bing)停壹下，等候人(ren)工將外加(jia)高(gao)壓關(guan)閉，關(guan)閉外高(gao)壓後(hou)，（必須關(guan)閉外加(jia)高(gao)壓），再(zai)按(an)壹次(ci)“起動(dong)"，鍵才能完成測試。
★如(ru)果(guo)外高壓未(wei)關(guan)閉，則測試結(jie)果(guo)不真(zhen)實(shi)！
★★★ 外接標準(zhun)電容的容量選擇(ze)：
“外接方式(shi)"時，每按(an)壹次(ci)“外接"鍵(jian)，則顯示(shi)的(de)外接標準(zhun)電容容量“ＸＸＸＸpＦ"將改變，共八(ba)種(zhong)容量供(gong)選擇(ze)（★zui後壹種(zhong)為廠家(jia)調(tiao)試用，用戶使用則無(wu)效(xiao)。）：
５0p F，１00pＦ，１50p F，200p F，５00p F，１000p F，ＸＸＸpＦ，ＸＸＸpＦ。
應(ying)選擇(ze)與外(wai)接標準(zhun)電容相等的容量。如果(guo)使用的外(wai)接電(dian)容容量特(te)殊，可(ke)請生(sheng)產(chan)廠家(jia)將該(gai)電容容量輸(shu)入儀(yi)器中(zhong)。如果(guo)選擇(ze)的外接標準(zhun)電容與實(shi)際(ji)不相等，則測量結果(guo)會受影響(xiang)。
正接線(xian)法：（接線(xian)如圖(tu)四(si)所示(shi)）
通電(dian)前(qian)，先將(jiang)“試驗電(dian)壓"開關(guan)置(zhi)於“關(guan)"位(wei)置(zhi)。將ＵＨ端(duan)子(zi)用線纜的大(da)鐵夾(jia)（有(you)ＵＨ標記(ji)），接至被試品(pin)的(de)高壓端(duan)，將(jiang)ＩＸ端(duan)子(zi)用另壹(yi)根線(xian)纜的芯(xin)線線(xian)頭(tou)（紅(hong)色(se)，有(you)CX 標記(ji)）接被試品(pin)CX低壓端(duan)，它(ta)的(de)屏蔽(bi)線(xian)頭(tou)（黑色(se)，有(you)E標記(ji)）接地，如(ru)果(guo)試品低壓端(duan)有(you)屏蔽(bi)端(duan)子(zi)，可(ke)用導線將(jiang)該(gai)端(duan)子(zi)與“Ｅ"連(lian)接後(hou)接地。
通電(dian)後(hou)，按(an)“正接"鍵(jian)。選好(hao)正(zheng)接線(xian)方式(shi)：用“試驗(yan)電壓"開關(guan)選好(hao)電(dian)壓：然(ran)後按(an)“起動(dong)"鍵開始測試。

反(fan)接線(xian)法：（接線(xian)如圖(tu)五所示(shi)）
通電(dian)前(qian)，先將(jiang)“試驗電(dian)壓"開關(guan)置(zhi)於“關(guan)"位(wei)置(zhi)，將ＵＨ端(duan)子(zi)接地，將(jiang)ＩＸ的芯(xin)線（有(you)CX標記(ji)）接至被試品(pin)CX的(de)。
通電(dian)後(hou)，按(an)“反(fan)接"鍵(jian)，選好(hao)反(fan)接線(xian)方式(shi)；用“試驗(yan)電壓"開關(guan)選好(hao)電(dian)壓；然(ran)後按(an)“起動(dong)"鍵開始測試。
★★★特(te)別註意(yi)：屏蔽(bi)“E"與ＩＸ電(dian)位(wei)接近(jin)，可(ke)接至被試品(pin)高(gao)壓端(duan)的(de)屏蔽(bi)或(huo)者(zhe)懸空(kong)，不能接地！！！。

外(wai)接高(gao)壓法(fa)：接線(xian)如圖(tu)六所(suo)示(shi)
CB為(wei)外接標準(zhun)電容，CX為被試品(pin)。
當(dang)被試品(pin)要(yao)求試(shi)驗(yan)電壓大(da)於１0ＫＶ時，可(ke)以(yi)外(wai)接高(gao)壓進(jin)行(xing)測量，即不使用儀(yi)器內(nei)部(bu)高(gao)壓變壓器(qi)，而外(wai)接壹(yi)臺高(gao)壓裝置進(jin)行(xing)測量。
★★★註意(yi)：外(wai)接高(gao)壓法(fa)進行(xing)測量時，“試驗電壓"開關(guan)必須置於“關(guan)"位(wei)置(zhi)！！！
★★★外接高(gao)壓法(fa)時，應(ying)外(wai)接標準(zhun)電容器ＣB,不許(xu)使用儀(yi)器內(nei)標準(zhun)電容器！！！
通電(dian)後(hou)，多次(ci)按(an)“外接"鍵(jian)，選好(hao)外(wai)接線(xian)方式(shi)以(yi)及(ji)外(wai)接的(de)標準(zhun)電容容量，必須再(zai)將(jiang)“試(shi)驗電壓"開關(guan)置(zhi)於“關(guan)"位(wei)置(zhi)！調(tiao)整(zheng)好(hao)外(wai)接電(dian)壓，然(ran)後按(an)“起動(dong)"鍵開始測試。
SXJS-IV型(xing)為中(zhong)文液(ye)晶(jing)顯示(shi)，有(you)中(zhong)文漢字提(ti)示(shi)各(ge)類測試信(xin)息(xi)。當測試完成後，可(ke)按(an)“打(da)印(yin)"鍵，打(da)印(yin)測試結(jie)果(guo)。
六、保管免(mian)費及(ji)免(mian)費修理期限(xian)
儀(yi)器應(ying)在(zai)原(yuan)廠包裝條件下，於室(shi)內(nei)貯存(cun)，其環境溫度為０－４0℃相對濕(shi)度(du)為３0％－７0％，且(qie)在空(kong)氣(qi)中(zhong)不應(ying)含(han)有(you)足(zu)以(yi)引(yin)起腐蝕(shi)的有(you)害(hai)物(wu)質(zhi)。儀(yi)器從(cong)冷環境突然(ran)到熱(re)環(huan)境中(zhong)時，可(ke)能有(you)結(jie)露，應(ying)等(deng)結露(lu)消(xiao)失(shi)後(hou)再(zai)使用。每年應(ying)打(da)開儀(yi)器，清(qing)除由於野外作業(ye)產(chan)生(sheng)的(de)灰塵，特(te)別是(shi)內(nei)部(bu)標準(zhun)電容處的灰(hui)塵。
儀(yi)器和(he)附件自制(zhi)造(zao)廠發貨(huo)日(ri)期起１2個月內(nei)，當(dang)用戶在*遵(zun)守(shou)制(zhi)造(zao)廠使用說(shuo)明(ming)書所規定的(de)保(bao)管的(de)使用條件下，發現產品制(zhi)造(zao)質量不良或不能正常(chang)工作時，制(zhi)造(zao)廠負責給予修理或更換(huan)。
七(qi)、儀(yi)器成套性
（１）介(jie)質損耗測試儀(yi) １臺
（２）測試線(xian)纜 ２根
（３）保(bao)險(xian)絲(si)（５Ａ） ４只(zhi)
（０.５Ａ） ２只(zhi)
（４）電源線(xian) １根
（５）使用說(shuo)明(ming)書 １份(fen)
（６）產品(pin)合(he)格(ge)證(zheng) １份(fen)

附錄：抗(kang)幹擾(rao)探(tan)討

（壹(yi)）、幹擾(rao)
以(yi)電(dian)容試品為例(li)，當(dang)工(gong)頻電(dian)壓加(jia)在(zai)電容上(shang)時，其上(shang)流(liu)過兩個電流(liu)（圖(tu)Ａ）：容性電(dian)流(liu)Ｉｃ和阻(zu)性電(dian)流(liu)Ｉｒ，合(he)成為試品電流(liu)Ｉｘ。Ｉｃ和Ｉｒ形(xing)成的夾角δ即為介(jie)質損耗角。當(dang)幹(gan)擾電(dian)流(liu)Ｉｇ流(liu)入試(shi)品(pin)時，與Ｉｘ合(he)成為Ｉｇｘ，Ｉｘ與Ｉｇｘ之間(jian)的(de)夾(jia)角β是(shi)由(you)幹擾(rao)電流(liu)Ｉｇ形(xing)成的。測量到的電流(liu)Ｉｇｘ與Ｕｃ的(de)夾(jia)角是(shi)β＋δ與階損角δ相差很大。
（二）、方法(fa)
目(mu)前(qian)，智(zhi)能介(jie)質損耗儀(yi)通常(chang)采用的抗(kang)幹擾(rao)方法(fa)主(zhu)要(yao)有(you)種(zhong)：
（１）、移相法
方法(fa)是(shi)將加(jia)到試品上(shang)的測試電(dian)壓Ｕｒ移相，使Ｕｃ與Ｉｇ同(tong)相位(wei)（Ｕｒ與Ｕｃ恒(heng)定相差９0度）,從(cong)圖(tu)Ｂ中可(ke)見(jian)，測量到的電流(liu)Ｉｇｘ與有(you)效(xiao)的Ｉｘ相差不大(da)（當(dang)幹擾(rao)電流(liu)較小(xiao)時），如果(guo)能再(zai)反(fan)Ｉｇ方向將Ｕｃ移相壹次(ci)，兩次(ci)數據(ju)合(he)成即能準確地找(zhao)到階損角δ（即使幹擾(rao)電(dian)流(liu)較大(da)）。
（２）、變頻(pin)法
現場(chang)測量時通常(chang)使用工頻(pin)電源，而現(xian)場(chang)幹(gan)擾主要(yao)也(ye)是工(gong)頻，同(tong)頻率(lv)的(de)電源相互(hu)疊(die)加(jia)形(xing)成幹擾，去(qu)除(chu)無(wu)用的幹(gan)擾而保(bao)留(liu)有(you)用測試電(dian)流(liu)是非(fei)常(chang)困難的。用非工(gong)頻電(dian)源進(jin)行(xing)測量，則工頻電(dian)源的(de)幹擾電(dian)流(liu)與測試電(dian)流(liu)由於頻率(lv)不同(tong)，是(shi)很容易區(qu)分開的。比如，將所含(han)有(you)幹(gan)擾混合(he)信(xin)號(hao)的(de)前(qian)１0ｍＳ信號，與後(hou)１0ｍＳ信(xin)號相加(jia)，就去(qu)除(chu)了(le)工(gong)頻幹擾，而測量信號(hao)不是(shi)５0Ｈｚ所(suo)以(yi)得以(yi)保(bao)留(liu)。
（３）、波形(xing)分析法
計(ji)算(suan)機的運用，使大量的工(gong)程分析計算(suan)變得方便，通過(guo)對(dui)現場(chang)幹(gan)擾的大量采集分析，結合(he)測量到的波形(xing)，運(yun)用高等(deng)數學(xue)理(li)論(lun)，巧(qiao)妙(miao)地去(qu)除(chu)幹(gan)擾(rao)，也(ye)同樣(yang)達到目(mu)的(de)。甚至去(qu)除(chu)壹(yi)、三、五次(ci)諧波(bo)也(ye)很方便。
（三）、要(yao)求
工(gong)程(cheng)測量介(jie)質損耗，通常(chang)要(yao)求能分辨出(chu)０.1％介(jie)損值是不過(guo)分的(de)。
介(jie)質損耗：ｔｇ（δ）＝０.1％＝０.00１
損耗角度(du)：δ＝０.057°
對(dui)應(ying)時間：Ｔ＝δ／360°×２0ｍＳ＝３.183μＳ
（四(si)）、比較
幹(gan)擾(rao)信號(hao)是由幹擾源通過(guo)媒介(jie)施加(jia)到試品上(shang)，即使幹擾(rao)源是(shi)恒(heng)定的(de)，但(dan)傳(chuan)輸(shu)媒介(jie)是空(kong)氣及(ji)其它絕(jue)緣(yuan)體(ti)不是(shi)恒(heng)定介(jie)質（圖(tu)Ｃ、圖(tu)Ｄ），所以(yi)幹(gan)擾電(dian)流(liu)Ｉｇ方向隨(sui)機變化(hua)的(de)程度≥０.057°不足(zu)為(wei)奇。要(yao)使測試電(dian)源隨(sui)時跟蹤Ｉｇ，而跟(gen)蹤角度(du)誤(wu)差≤０．057°絕(jue)非(fei)易事(shi)。所以(yi)zui終抗(kang)幹擾(rao)雖(sui)然(ran)有(you)效(xiao)，但(dan)是(shi)測量精度(du)不容易提(ti)高。
運(yun)行(xing)的(de)設(she)備（試(shi)品(pin)）在(zai)工頻下運行(xing)，要(yao)求知(zhi)道(dao)在工(gong)頻(pin)條件下的介(jie)質損耗。
理論(lun)上(shang)：介(jie)質損耗＝２πｆＲＣ，（ｆ＝５0Ｈｚ）
所以(yi)用非工(gong)頻的(de)ｆ'電(dian)源加(jia)在(zai)試品上(shang)所測得的(de)介(jie)質損耗＝２πｆ'ＲＣ，再(zai)由(you)這壹(yi)結(jie)果(guo)推算(suan)出(chu)２πｆＲＣ易如(ru)反(fan)掌。
然(ran)而運(yun)行(xing)設(she)備的(de)等(deng)效(xiao)Ｒ，不是(shi)理(li)想的(de)電阻，其中更多(duo)的(de)是(shi)有(you)極分子(zi)，其等效(xiao)Ｒ隨(sui)頻(pin)率(lv)ｆ的(de)變化(hua)而變化(hua)，所(suo)以(yi)盡(jin)管理(li)論(lun)上(shang)介(jie)質損耗與頻(pin)率(lv)成正比，而實(shi)際(ji)介(jie)質損耗（２πｆＲＣ）不與頻(pin)率(lv)成正比。這給(gei)根(gen)據變頻(pin)２πｆ'ＲＣ推算(suan)工(gong)頻２πｆＲＣ造(zao)成了麻煩。
為了(le)減(jian)小(xiao)這個非線性誤(wu)差(cha)，ｆ'采用接近(jin)工頻(pin)的頻率(lv)，但(dan)過(guo)分接近(jin)等於沒有(you)變頻(pin)，這就是主(zhu)要(yao)矛(mao)盾(dun)。好(hao)在(zai)大多數(shu)試品對(dui)頻率(lv)的(de)敏感(gan)沒(mei)有(you)那麽強(qiang)烈(lie)。所以(yi)變頻(pin)法抗(kang)幹擾(rao)是(shi)比較成功的。
產生(sheng)壹(yi)個有(you)壹(yi)定的功(gong)率(lv)，且(qie)又是(shi)正(zheng)弦(xian)波的(de)異頻電源有(you)較大(da)的(de)難度(du)。因為異頻電(dian)源波(bo)形(xing)的(de)失(shi)真(zhen)度(du)對相角的(de)影(ying)響(xiang)很大，或(huo)者(zhe)與實(shi)際(ji)工頻(pin)正弦(xian)波電(dian)源情(qing)況下所造(zao)成的介(jie)質損耗有(you)誤(wu)差。
為了(le)去(qu)除(chu)接近(jin)ｆ'工頻(pin)幹擾，變頻(pin)法不得不處理大(da)量的數(shu)據，所(suo)以(yi)相對測量時間較長。
五）、SXJS-IV處理幹(gan)擾的(de)方法(fa)
測試電(dian)源采用工頻(pin)，使測量與實(shi)際(ji)壹樣(yang)。交錯(cuo)分時測量幹擾(rao)信號(hao)和(he)綜合(he)信(xin)號(hao)，將(jiang)所(suo)有(you)測到的信號(hao)都(dou)精(jing)確地鎖定(ding)在(zai)與測試電(dian)源同(tong)步(bu)的０相位(wei)上(shang)，再(zai)將(jiang)幹(gan)擾信號倒(dao)相與綜合(he)信(xin)號(hao)疊(die)加(jia)得到有(you)效(xiao)信號。
在(zai)數字處理上(shang)，廣泛(fan)地采用數字與電(dian)子(zi)技(ji)術(shu)，剔除(chu)了(le)相角相差１％的信號，剔除(chu)了(le)數值(zhi)較大(da)的(de)幾組(zu)信號，也(ye)剔除(chu)了(le)數值(zhi)較小(xiao)的(de)幾組(zu)信號，再(zai)將(jiang)許(xu)多組中值(zhi)信號求平均(jun)值(zhi)得出(chu)結果(guo)，而每組信(xin)號都(dou)是(shi)由(you)許(xu)多(duo)測量信號(hao)與處理後(hou)的幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)構(gou)成的。在調(tiao)試中(zhong)所有(you)數(shu)據都(dou)以(yi)６位(wei)有(you)效(xiao)數字計(ji)算(suan)。為(wei)了提(ti)高測量速度(du)，采用雙計(ji)算(suan)機和高速(su)並(bing)行(xing)Ａ／Ｄ轉(zhuan)換(huan)器(qi)處理信(xin)息，軟件全部用匯編完成。
對於強(qiang)幹(gan)擾信號較精(jing)確地測出(chu)其大小(xiao)不難(nan)，儀(yi)器特(te)別設(she)計的(de)高(gao)精(jing)度相位(wei)鎖定(ding)器(qi)能將其準確地定(ding)相，為*消除幹擾提(ti)供(gong)了便利；對於弱幹擾信號粗略(lve)地測出(chu)其大小(xiao)也(ye)是可(ke)以(yi)的(de)，而相位(wei)鎖定(ding)器(qi)並不受(shou)測量信號(hao)的大(da)小(xiao)影(ying)響(xiang)，仍然(ran)準確定(ding)相，弱幹擾本來(lai)對測量信號(hao)的影(ying)響(xiang)就小，再(zai)粗略(lve)地去(qu)除(chu)其大部(bu)分，也(ye)可(ke)以(yi)認(ren)為去(qu)除(chu)了(le)幹(gan)擾。
對於突發性幹(gan)擾(rao)信號(hao)，儀(yi)器盡(jin)可(ke)能地將(jiang)采樣的幹(gan)擾(rao)數據(ju)廢除，或(huo)宣(xuan)布(bu)測試失(shi)敗，以(yi)保(bao)證數(shu)據結果(guo)的可(ke)靠(kao)性。
實(shi)驗(yan)數據(ju)：用工頻(pin)５00Ｖ電壓加(jia)載(zai)５0ｐＦ電容，測量信號(hao)電流(liu)約(yue)８μＡ，無(wu)幹(gan)擾時，快(kuai)速(su)測量測得介(jie)損為０.08％，抗(kang)幹擾(rao)測量測得介(jie)損為０.08％；用２0000Ｖ工頻(pin)做(zuo)幹(gan)擾(rao)，距離被試品(pin)１0厘(li)米(mi)，快(kuai)速(su)測量測得介(jie)損為１2.2３％，抗(kang)幹擾(rao)測量測得介(jie)損為０.09％。