智能(neng)化(hua)介質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀(yi)

產(chan)品型(xing)號(hao): SXJS-IV 

  壹、概說
SXJS-IV型(xing)系(xi)列(lie)智能(neng)化(hua)介質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀(yi)它(ta)淘(tao)汰(tai)了ＱＳＩ高(gao)壓(ya)電橋(qiao)，具有操(cao)作(zuo)簡單、中文(wen)顯(xian)示(shi)、打印(yin)，使用方(fang)便、無需(xu)換(huan)算、自帶高壓(ya)，抗幹擾(rao)能(neng)力(li)強(qiang)等優點。JSY—03體積(ji)小、重(zhong)量輕(qing)，是我(wo)廠(chang)的第三(san)代(dai)智能(neng)化(hua)介質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀(yi)。 
二、技術指(zhi)標(biao)
１．環(huan)境(jing)溫度(du)：０～４0℃（液晶(jing)屏(ping)應避(bi)免(mian)長時日照）
２．相(xiang)對濕(shi)度(du)：３0％～７0％
３．供電(dian)電(dian)源(yuan)：電壓(ya)：２２０Ｖ±１0％，頻(pin)率(lv)：５0±１Ｈz
４．外形尺寸(cun)：長×寬(kuan)×高(gao)＝490mm×300mm×390mm
５．重(zhong)量：約18Ｋg
６．輸(shu)出(chu)功(gong)率(lv)：1ＫVA
７．顯(xian)示(shi)分(fen)辨率(lv)：４位(wei)
８．測(ce)量(liang)範(fan)圍：
介質(zhi)損(sun)耗(hao)（tgδ）：０-50％ 
電(dian)容(rong)容(rong)量(liang)（Cx）和加(jia)載(zai)電壓(ya)：
２.5ＫＶ檔：≤ ３00nＦ（ ３00000ｐＦ）
３ＫＶ檔：≤２00nＦ（ ２00000ｐＦ）
５ＫＶ檔：≤ ７6nＦ（ ７6000ｐＦ）
７.５ＫＶ檔：≤ ３4nＦ（ ３4000ｐＦ）
１０ＫＶ檔：≤ ２0nＦ（ ２0000ｐＦ）
９．基本(ben)測量誤差：
介質(zhi)損(sun)耗(hao)（tgδ）： １％±０.０7％（加(jia)載(zai)電(dian)流(liu)２０μＡ～５00ｍＡ）正(zheng)接(jie)
介質(zhi)損(sun)耗(hao)（tgδ）： ２％±０.０9％（加(jia)載(zai)電(dian)流(liu)　５μＡ～２0μＡ）反(fan)接(jie)
電(dian)容(rong)容(rong)量 （ Cx）：１.５％±１.５pＦ
三(san)、結(jie)構
儀(yi)器(qi)為升壓(ya)與(yu)測(ce)量(liang)壹(yi)體化結(jie)構，輸出(chu)電壓(ya)２.5KＶ～１０ＫＶ五檔可調，以適(shi)應(ying)各(ge)種需(xu)要，在(zai)測(ce)量(liang)時(shi)無需(xu)任何(he)外(wai)部(bu)設備。接(jie)線(xian)與(yu)ＱＳＩ電(dian)橋(qiao)相(xiang)似(si)，但(dan)比其方(fang)便。
圖(tu)壹為(wei)儀(yi)器(qi)操(cao)作(zuo)面板圖(tu)，圖(tu)二為儀(yi)器(qi)接(jie)線(xian)端面圖(tu)。
⑴ 顯示(shi)窗————————液晶(jing)顯(xian)示(shi)屏。
⑵ 試驗(yan)電壓(ya)選擇(ze)開(kai)關———當開關置於“關"時，儀(yi)器(qi)無高(gao)壓(ya)輸出(chu)。
⑶ 操(cao)作(zuo)鍵盤———————選擇(ze)測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)、起動(dong)、停止(zhi)、打(da)印(yin)等操(cao)作(zuo)。
⑷ 電源(yuan)插(cha)座(zuo)——————— 保(bao)險(xian)絲(si)用５Ａ。
⑸ 電源(yuan)開關———————電源(yuan)通斷(duan)。
⑹ 起動(dong)燈(deng)————————指(zhi)示(shi)高壓(ya)輸出(chu)。
⑺ 打印(yin)機————————打印(yin)測試結(jie)果(guo)。
★★★★⑻ 接(jie)地(di)端子——————使(shi)用前，必(bi)須(xu)將(jiang)該端子可(ke)靠(kao)接(jie)地(di)！！！
★⑼測(ce)量(liang)電流(liu)輸(shu)入(ru)端ＩＸ———有兩個(ge)出(chu)線頭(tou)，中心(xin)頭(tou)（紅色，有ＣＸ標(biao)記）應與(yu)被試品壹(yi)端相(xiang)接(jie)，屏(ping)蔽頭(tou)（黑色，有Ｅ標(biao)記）是儀(yi)器(qi)內(nei)部高(gao)壓(ya)輸出(chu)壹個(ge)參(can)考(kao)端，在(zai)正(zheng)接(jie)法(fa)測(ce)量時應接(jie)地(di)；在(zai)反(fan)接(jie)法(fa)測(ce)量時應浮(fu)空；外接(jie)法(fa)參(can)見“外接(jie)高(gao)壓(ya)法(fa)"。
★⑽ 標(biao)準電(dian)流(liu)輸(shu)入(ru)端ＩＮ———僅(jin)當(dang)外接(jie)標(biao)準電(dian)容器(qi)進(jin)行(xing)測量(liang)時(shi)才(cai)用，該端應(ying)與(yu)外(wai)接(jie) 標(biao)準電(dian)容器(qi)壹端相(xiang)連。ＩＮ必(bi)須(xu)小(xiao)於(yu)１00ｍＡ！！！
⑾ 測(ce)量高壓(ya)輸出(chu)端ＵＨ——只(zhi)有壹個(ge)大鐵(tie)夾(jia)出(chu)線頭(tou)（有ＵＨ標(biao)記），與(yu)被試品壹(yi)端 相(xiang)接(jie)。

四(si)、工(gong)作(zuo)原理
儀(yi)器(qi)測量線路(lu)包(bao)括(kuo)壹路(lu)標(biao)準回(hui)路和壹(yi)路(lu)測試回(hui)路，如圖(tu)三(san)所(suo)示(shi)。
標(biao)準回(hui)路由內(nei)置高(gao)穩(wen)定度(du)標(biao)準電(dian)容器(qi)與(yu)標(biao)準電(dian)阻網絡(luo)組(zu)成，由計算機實時(shi)采(cai)集標(biao)準回(hui)路電流(liu)與(yu)測(ce)試(shi)回(hui)路的電(dian)流(liu)幅(fu)值(zhi)及其相(xiang)位(wei)差(cha)，並由之(zhi)算出(chu)被測試(shi)品的電(dian)容(rong)容(rong)值(zhi)（Cx）和其介質(zhi)損(sun)耗(hao)（tg）。
數(shu)據采(cai)集電(dian)路全部采(cai)用高穩定度(du)器件(jian)，采(cai)集板和采(cai)集計(ji)算機被鐵(tie)盒*浮(fu)空屏蔽，儀(yi)器(qi)的外(wai)殼(ke)接(jie)地(di)屏(ping)蔽；另外(wai)使用了光(guang)導數(shu)據、浮(fu)空地、大面積(ji)地、單(dan)點地、數(shu)字濾(lv)波(bo)等抗幹擾(rao)技(ji)術(shu)，加之(zhi)計算機對數(shu)百個(ge)電(dian)網周期(qi)的數(shu)據進(jin)行(xing)處理，故測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)穩(wen)定、精確(que)、可(ke)靠(kao)。
由(you)圖(tu)三(san)可(ke)見(jian)，儀(yi)器(qi)高壓(ya)變壓(ya)器的高(gao)壓(ya)側和測(ce)量(liang)線路都是浮(fu)地(di)的，用戶可根據不(bu)同的測(ce)量(liang)對(dui)象和測(ce)量(liang)需要，靈(ling)活(huo)地采(cai)用多(duo)種接(jie)線(xian)方(fang)式(shi)。如采(cai)用“正(zheng)接(jie)線(xian)法(fa)"進(jin)行(xing)測量(liang)時(shi)，可(ke)將(jiang)“Ｅ"點接(jie)地(di)；而當(dang)采(cai)用“反接(jie)線(xian)法(fa)"進(jin)行(xing)測量(liang)時(shi)，可(ke)將(jiang)“UH"點接(jie)地(di)，而將(jiang)E點浮(fu)空。
圖(tu)中除測試(shi)品Cx外(wai)，其余(yu)為本(ben)儀(yi)器(qi)。細線框內(nei)部分(fen)對(dui)儀(yi)器(qi)外殼能(neng)承受(shou)１5ＫＶ工(gong)頻(pin)高(gao)壓(ya)５分(fen)鐘(zhong)，額定耐壓(ya)１0ＫＶ。儀(yi)器(qi)內(nei)附標(biao)準電(dian)容ＣＮ，名義值(zhi)為５0ＰＦ，tgδ≤０.0001，耐壓(ya)１0ＫＶ。高壓(ya)變壓(ya)器，額定輸出(chu)功(gong)率(lv)為(wei)1ＫＶＡ。
★“Ｅ"點為儀(yi)器(qi)的內(nei)屏蔽與(yu)測(ce)量(liang)電(dian)纜的屏(ping)蔽層相(xiang)連，不(bu)是大地(di)，與(yu)儀(yi)器(qi)的外(wai)殼(ke)也(ye)不(bu)連通！！！
五、使(shi)用方(fang)法(fa)
★★★ 安全操(cao)作(zuo)註意事項
１．使(shi)用時必(bi)須(xu)將(jiang)儀(yi)器(qi)的接(jie)地(di)端子可(ke)靠(kao)的接(jie)地(di)。
２．只(zhi)有關閉儀(yi)器(qi)電源(yuan)，試驗(yan)電壓(ya)選擇(ze)開(kai)關置於“關"位(wei)置(zhi)時(shi)，接(jie)觸儀(yi)器(qi)的後(hou)部(bu)及(ji)其測(ce) 量線纜與(yu)被試品才(cai)被認為是(shi)安全的。
３．儀(yi)器(qi)在(zai)測(ce)量(liang)時(shi)，嚴(yan)禁(jin)操(cao)作(zuo)“試驗電(dian)壓(ya)"選擇(ze)開(kai)關。
４．★正(zheng)接(jie)線(xian)法(fa)ＵＨ端為(wei)高(gao)電壓(ya)，反接(jie)線(xian)法(fa)ＩＸ端為(wei)高(gao)電壓(ya)，使用時必(bi)須(xu)根據實際(ji)情 況，將(jiang)帶高壓(ya)的線(xian)纜與(yu)地(di)保(bao)持(chi)足(zu)夠的距(ju)離(li)。
5．不(bu)得(de)更換(huan)不(bu)符合面板指示(shi)值(zhi)的保(bao)險(xian)絲(si)管(guan)，內(nei)部壹(yi)只(zhi)保(bao)險(xian)絲(si)為(wei)：0.５Ａ
６．使(shi)用時盡可能(neng)用廠(chang)家隨(sui)儀(yi)器(qi)提供的線(xian)纜以確(que)保(bao)測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度(du)。
７．操(cao)作(zuo)鍵盤
備(bei)用—————不(bu)用。
快測—————快速(su)測(ce)量(liang)，無抗幹擾(rao)功(gong)能(neng)。
抗擾(rao)—————抗幹擾(rao)測(ce)量(liang)。
正(zheng)接(jie)—————正(zheng)接(jie)法(fa)測(ce)量。
打印(yin)—————在(zai)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)出(chu)來後(hou)，打(da)印(yin)測試數(shu)據。
反(fan)接(jie)—————反(fan)接(jie)法(fa)測(ce)量。
起動(dong)—————起動(dong)高壓(ya)，開始測量(liang)。
外接(jie)—————外(wai)接(jie)法(fa)測(ce)量。也用來選擇(ze)外(wai)接(jie)標(biao)準電(dian)容的容(rong)量(liang)。
停止(zhi)—————可(ke)以在(zai)測(ce)試(shi)過(guo)程中，中斷(duan)測量。
測試(shi)前先(xian)用"試驗電壓(ya)"開關選好輸(shu)出(chu)電壓(ya)，然(ran)後用“操(cao)作(zuo)鍵盤"選擇(ze)好(hao)測(ce)試方(fang)式(shi)。儀(yi)器(qi)首先(xian)自檢（顯示(shi)屏、光(guang)電通訊、內(nei)存、操(cao)作(zuo)鍵、數(shu)模(mo)轉(zhuan)換(huan)、電網頻(pin)率(lv)．．．），自檢通過(guo)後(hou)，進(jin)入(ru)主(zhu)目(mu)錄。這時按屏(ping)幕提(ti)示(shi)即可完成測試。
進(jin)入(ru)測(ce)量(liang)狀(zhuang)態(tai)後，用戶隨時可(ke)用“停止(zhi)"鍵(jian)退(tui)出(chu)測量(liang)狀(zhuang)態(tai)。
做(zuo)正(zheng)、反(fan)接(jie)測(ce)量(liang)時(shi)無須(xu)人(ren)工(gong)幹預(yu)。
★做(zuo)外接(jie)方(fang)式(shi)測量(liang)時(shi)，中途(tu)會(hui)顯(xian)示(shi)“請關閉外接(jie)高(gao)壓(ya)！"並停壹(yi)下，等候人(ren)工(gong)將(jiang)外加(jia)高壓(ya)關閉，關閉外高(gao)壓(ya)後，（必(bi)須(xu)關閉外加(jia)高(gao)壓(ya)），再(zai)按壹(yi)次(ci)“起動(dong)"，鍵才能(neng)完成測試。
★如果(guo)外(wai)高(gao)壓(ya)未關閉，則測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)不(bu)真實(shi)！
★★★ 外接(jie)標(biao)準電(dian)容的容(rong)量(liang)選擇(ze)：
“外(wai)接(jie)方(fang)式(shi)"時，每(mei)按(an)壹(yi)次“外接(jie)"鍵(jian)，則(ze)顯(xian)示(shi)的外(wai)接(jie)標(biao)準電(dian)容容(rong)量“ＸＸＸＸpＦ"將(jiang)改(gai)變，共(gong)八種容(rong)量(liang)供選擇(ze)（★zui後(hou)壹(yi)種為(wei)廠(chang)家調(tiao)試用，用戶使用則無效(xiao)。）：
５0p F，１00pＦ，１50p F，200p F，５00p F，１000p F，ＸＸＸpＦ，ＸＸＸpＦ。
應選擇(ze)與(yu)外(wai)接(jie)標(biao)準電(dian)容相(xiang)等的容(rong)量(liang)。如果(guo)使(shi)用的外(wai)接(jie)電(dian)容(rong)容(rong)量特殊，可請(qing)生產(chan)廠(chang)家將(jiang)該電容(rong)容量(liang)輸(shu)入(ru)儀(yi)器(qi)中。如果(guo)選擇(ze)的外(wai)接(jie)標(biao)準電(dian)容與(yu)實(shi)際(ji)不(bu)相(xiang)等，則(ze)測量結(jie)果(guo)會(hui)受(shou)影(ying)響。
正(zheng)接(jie)線(xian)法(fa)：（接(jie)線(xian)如圖(tu)四所(suo)示(shi)）
通電(dian)前，先(xian)將(jiang)“試驗(yan)電壓(ya)"開關置於“關"位(wei)置(zhi)。將(jiang)ＵＨ端子用線纜的大鐵(tie)夾(jia)（有ＵＨ標(biao)記），接(jie)至(zhi)被試品的高(gao)壓(ya)端，將(jiang)ＩＸ端子用另壹根線纜的芯(xin)線線(xian)頭(tou)（紅色，有CX標(biao)記）接(jie)被試品CX低壓(ya)端，它(ta)的屏(ping)蔽線頭(tou)（黑色，有E標(biao)記）接(jie)地(di)，如果(guo)試(shi)品低壓(ya)端有屏蔽端子，可(ke)用導線將(jiang)該端子與(yu)“Ｅ"連接(jie)後(hou)接(jie)地(di)。
通電(dian)後(hou)，按“正(zheng)接(jie)"鍵(jian)。選好正(zheng)接(jie)線(xian)方(fang)式(shi)：用“試驗電壓(ya)"開關選好電(dian)壓(ya)：然(ran)後按“起動(dong)"鍵開始測試(shi)。

反接(jie)線(xian)法(fa)：（接(jie)線(xian)如圖(tu)五所(suo)示(shi)）
通電(dian)前，先(xian)將(jiang)“試驗(yan)電壓(ya)"開關置於“關"位(wei)置(zhi)，將(jiang)ＵＨ端子接(jie)地(di)，將(jiang)ＩＸ的芯(xin)線（有CX標(biao)記）接(jie)至(zhi)被試品CX的。
通電(dian)後(hou)，按“反(fan)接(jie)"鍵(jian)，選好反(fan)接(jie)線(xian)方(fang)式(shi)；用“試驗電壓(ya)"開關選好電(dian)壓(ya)；然(ran)後按“起動(dong)"鍵開始測試(shi)。
★★★特別(bie)註(zhu)意(yi)：屏(ping)蔽“E"與(yu)ＩＸ電(dian)位(wei)接(jie)近(jin)，可接(jie)至(zhi)被試品高(gao)壓(ya)端的屏(ping)蔽或者(zhe)懸空，不(bu)能(neng)接(jie)地(di)！！！。

外(wai)接(jie)高(gao)壓(ya)法(fa)：接(jie)線(xian)如圖(tu)六所(suo)示(shi)
CB為外接(jie)標(biao)準電(dian)容，CX為(wei)被試品。
當(dang)被試品要求試(shi)驗電(dian)壓(ya)大於(yu)１0ＫＶ時，可(ke)以外(wai)接(jie)高(gao)壓(ya)進(jin)行(xing)測量(liang)，即(ji)不(bu)使用儀(yi)器(qi)內(nei)部高(gao)壓(ya)變壓(ya)器，而外(wai)接(jie)壹(yi)臺高壓(ya)裝置(zhi)進(jin)行(xing)測量(liang)。
★★★註(zhu)意(yi)：外接(jie)高(gao)壓(ya)法(fa)進(jin)行(xing)測量(liang)時(shi)，“試(shi)驗電壓(ya)"開關必(bi)須(xu)置(zhi)於(yu)“關"位(wei)置(zhi)！！！
★★★外(wai)接(jie)高(gao)壓(ya)法(fa)時(shi)，應外接(jie)標(biao)準電(dian)容器(qi)ＣB,不(bu)許使(shi)用儀(yi)器(qi)內(nei)標(biao)準電(dian)容器(qi)！！！
通電(dian)後(hou)，多(duo)次按“外接(jie)"鍵(jian)，選好外(wai)接(jie)線(xian)方(fang)式(shi)以及(ji)外(wai)接(jie)的標(biao)準電(dian)容容(rong)量，必(bi)須(xu)再(zai)將(jiang)“試驗(yan)電壓(ya)"開關置於“關"位(wei)置(zhi)！調(tiao)整(zheng)好外接(jie)電(dian)壓(ya)，然(ran)後按“起動(dong)"鍵開始測試(shi)。
SXJS-IV型(xing)為中文(wen)液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，有中文(wen)漢(han)字(zi)提(ti)示(shi)各(ge)類(lei)測(ce)試(shi)信(xin)息。當測試(shi)完成後，可按“打(da)印(yin)"鍵，打印(yin)測試結(jie)果(guo)。
六、保(bao)管(guan)免(mian)費(fei)及免(mian)費(fei)修理期(qi)限
儀(yi)器(qi)應在(zai)原廠(chang)包(bao)裝條(tiao)件(jian)下，於室(shi)內(nei)貯存，其環(huan)境(jing)溫度(du)為０－４0℃相(xiang)對濕(shi)度(du)為３0％－７0％，且在(zai)空氣中不(bu)應含有足(zu)以引(yin)起腐(fu)蝕(shi)的有害物質(zhi)。儀(yi)器(qi)從(cong)冷環(huan)境(jing)突然(ran)到(dao)熱環(huan)境(jing)中時(shi)，可(ke)能(neng)有結(jie)露(lu)，應(ying)等(deng)結(jie)露(lu)消(xiao)失後(hou)再(zai)使用。每年(nian)應(ying)打開(kai)儀(yi)器(qi)，清除由於(yu)野(ye)外作(zuo)業(ye)產(chan)生的灰(hui)塵，特別(bie)是(shi)內(nei)部標(biao)準電(dian)容處(chu)的灰(hui)塵。
儀(yi)器(qi)和附件(jian)自制(zhi)造(zao)廠(chang)發貨(huo)日期(qi)起１2個(ge)月(yue)內(nei)，當用戶在(zai)*遵(zun)守制(zhi)造(zao)廠(chang)使用說明(ming)書(shu)所(suo)規(gui)定的保(bao)管(guan)的使(shi)用條(tiao)件(jian)下，發現(xian)產(chan)品制(zhi)造(zao)質(zhi)量(liang)不(bu)良(liang)或不(bu)能(neng)正(zheng)常工(gong)作(zuo)時(shi)，制(zhi)造(zao)廠(chang)負責(ze)給予(yu)修(xiu)理或更(geng)換(huan)。
七、儀(yi)器(qi)成套性
（１）介質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀(yi) １臺
（２）測試(shi)線(xian)纜 ２根
（３）保(bao)險(xian)絲(si)（５Ａ） ４只(zhi)
（０.５Ａ） ２只(zhi)
（４）電(dian)源(yuan)線 １根
（５）使用說明(ming)書(shu) １份
（６）產(chan)品合(he)格(ge)證 １份

附錄：抗幹擾(rao)探討

（壹）、幹擾(rao)
以電(dian)容(rong)試品為(wei)例，當(dang)工(gong)頻(pin)電(dian)壓(ya)加在(zai)電(dian)容(rong)上(shang)時，其上(shang)流(liu)過(guo)兩個(ge)電(dian)流(liu)（圖(tu)Ａ）：容性電流(liu)Ｉｃ和阻性電流(liu)Ｉｒ，合(he)成為試品電(dian)流(liu)Ｉｘ。Ｉｃ和Ｉｒ形成的夾(jia)角(jiao)δ即為介質(zhi)損(sun)耗(hao)角(jiao)。當幹擾(rao)電(dian)流(liu)Ｉｇ流(liu)入(ru)試(shi)品時(shi)，與(yu)Ｉｘ合(he)成為Ｉｇｘ，Ｉｘ與(yu)Ｉｇｘ之(zhi)間的夾(jia)角(jiao)β是由幹擾(rao)電(dian)流(liu)Ｉｇ形成的。測(ce)量(liang)到(dao)的電(dian)流(liu)Ｉｇｘ與(yu)Ｕｃ的夾(jia)角(jiao)是β＋δ與(yu)階(jie)損(sun)角(jiao)δ相(xiang)差很(hen)大。
（二）、方(fang)法(fa)
目(mu)前，智能(neng)介質(zhi)損(sun)耗(hao)儀(yi)通常采(cai)用的抗幹擾(rao)方(fang)法(fa)主(zhu)要有種：
（１）、移(yi)相(xiang)法(fa)
方(fang)法(fa)是(shi)將(jiang)加到(dao)試品上(shang)的測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)Ｕｒ移(yi)相(xiang)，使Ｕｃ與(yu)Ｉｇ同相(xiang)位(wei)（Ｕｒ與(yu)Ｕｃ恒定相(xiang)差９0度(du)）,從(cong)圖(tu)Ｂ中可(ke)見(jian)，測(ce)量(liang)到(dao)的電(dian)流(liu)Ｉｇｘ與(yu)有效的Ｉｘ相(xiang)差不(bu)大（當(dang)幹擾(rao)電(dian)流(liu)較小(xiao)時(shi)），如果(guo)能(neng)再(zai)反Ｉｇ方(fang)向(xiang)將(jiang)Ｕｃ移(yi)相(xiang)壹次(ci)，兩次數(shu)據合(he)成即能(neng)準(zhun)確(que)地(di)找(zhao)到(dao)階損(sun)角(jiao)δ（即使幹擾(rao)電(dian)流(liu)較大）。
（２）、變頻(pin)法(fa)
現(xian)場測量時(shi)通常使(shi)用工(gong)頻(pin)電(dian)源(yuan)，而現(xian)場(chang)幹擾(rao)主(zhu)要也是(shi)工(gong)頻(pin)，同頻(pin)率(lv)的電(dian)源(yuan)相(xiang)互疊加形成幹擾(rao)，去(qu)除無用的幹擾(rao)而保(bao)留有用測試電流(liu)是(shi)非常困(kun)難的。用非工(gong)頻(pin)電(dian)源(yuan)進(jin)行(xing)測量(liang)，則(ze)工(gong)頻(pin)電(dian)源(yuan)的幹擾(rao)電(dian)流(liu)與(yu)測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)由(you)於頻(pin)率(lv)不(bu)同，是很容易區分(fen)開(kai)的。比(bi)如，將(jiang)所(suo)含有幹擾(rao)混(hun)合(he)信號(hao)的前１0ｍＳ信號(hao)，與(yu)後(hou)１0ｍＳ信(xin)號(hao)相(xiang)加，就(jiu)去除了工(gong)頻(pin)幹擾(rao)，而測(ce)量(liang)信(xin)號(hao)不(bu)是５0Ｈｚ所(suo)以得(de)以保(bao)留。
（３）、波(bo)形分(fen)析(xi)法(fa)
計(ji)算機的運用，使大量(liang)的工(gong)程(cheng)分(fen)析(xi)計(ji)算(suan)變得(de)方(fang)便，通過(guo)對(dui)現場(chang)幹擾(rao)的大量(liang)采(cai)集分(fen)析(xi)，結(jie)合測量到(dao)的波(bo)形，運用高等數(shu)學(xue)理論(lun)，巧(qiao)妙(miao)地去除幹擾(rao)，也(ye)同樣達到(dao)目(mu)的。甚(shen)至(zhi)去(qu)除壹、三(san)、五次(ci)諧(xie)波(bo)也很(hen)方(fang)便。
（三(san)）、要求
工(gong)程(cheng)測(ce)量介質(zhi)損(sun)耗(hao)，通常要求能(neng)分(fen)辨出(chu)０.1％介損(sun)值(zhi)是不(bu)過分(fen)的。
介質(zhi)損(sun)耗(hao)：ｔｇ（δ）＝０.1％＝０.00１
損(sun)耗(hao)角(jiao)度(du)：δ＝０.057°
對應(ying)時(shi)間：Ｔ＝δ／360°×２0ｍＳ＝３.183μＳ
（四(si)）、比較
幹擾(rao)信(xin)號(hao)是由(you)幹擾(rao)源(yuan)通過(guo)媒(mei)介施(shi)加(jia)到(dao)試品上(shang)，即使(shi)幹擾(rao)源(yuan)是恒定的，但(dan)傳(chuan)輸(shu)媒(mei)介是(shi)空氣及(ji)其它(ta)絕(jue)緣(yuan)體不(bu)是恒定介質(zhi)（圖(tu)Ｃ、圖(tu)Ｄ），所(suo)以幹擾(rao)電(dian)流(liu)Ｉｇ方(fang)向(xiang)隨機變化(hua)的程(cheng)度(du)≥０.057°不(bu)足(zu)為奇。要使測(ce)試電(dian)源(yuan)隨時(shi)跟蹤Ｉｇ，而跟蹤角(jiao)度(du)誤差(cha)≤０．057°絕(jue)非易(yi)事。所(suo)以zui終抗幹擾(rao)雖然(ran)有效，但是(shi)測(ce)量精度(du)不(bu)容易(yi)提高。
運行(xing)的設備（試(shi)品）在(zai)工(gong)頻(pin)下運行(xing)，要求知(zhi)道在(zai)工(gong)頻(pin)條(tiao)件(jian)下的介質(zhi)損(sun)耗(hao)。
理論(lun)上(shang)：介質(zhi)損(sun)耗(hao)＝２πｆＲＣ，（ｆ＝５0Ｈｚ）
所(suo)以用非工(gong)頻(pin)的ｆ'電(dian)源(yuan)加在(zai)試(shi)品上(shang)所(suo)測得(de)的介質(zhi)損(sun)耗(hao)＝２πｆ'ＲＣ，再(zai)由這(zhe)壹(yi)結(jie)果(guo)推(tui)算出(chu)２πｆＲＣ易如反(fan)掌(zhang)。
然(ran)而運行(xing)設備的等(deng)效(xiao)Ｒ，不(bu)是理想的電(dian)阻，其中更(geng)多(duo)的是(shi)有極分(fen)子，其等(deng)效Ｒ隨頻(pin)率(lv)ｆ的變化(hua)而變化(hua)，所(suo)以盡(jin)管(guan)理論(lun)上(shang)介質(zhi)損(sun)耗(hao)與(yu)頻(pin)率(lv)成正(zheng)比(bi)，而實(shi)際(ji)介質(zhi)損(sun)耗(hao)（２πｆＲＣ）不(bu)與(yu)頻(pin)率(lv)成正(zheng)比(bi)。這給(gei)根據變頻(pin)２πｆ'ＲＣ推(tui)算工(gong)頻(pin)２πｆＲＣ造(zao)成了麻(ma)煩。
為了減(jian)小(xiao)這個(ge)非線(xian)性誤差，ｆ'采(cai)用接(jie)近(jin)工(gong)頻(pin)的頻(pin)率(lv)，但過(guo)分(fen)接(jie)近(jin)等於(yu)沒(mei)有變頻(pin)，這(zhe)就是(shi)主(zhu)要矛盾(dun)。好(hao)在(zai)大多(duo)數(shu)試品對(dui)頻(pin)率(lv)的敏(min)感(gan)沒(mei)有那(na)麽強(qiang)烈。所(suo)以變頻(pin)法(fa)抗幹擾(rao)是(shi)比(bi)較成功(gong)的。
產(chan)生壹(yi)個(ge)有壹定的功(gong)率(lv)，且又(you)是(shi)正(zheng)弦波(bo)的異(yi)頻(pin)電(dian)源(yuan)有較大的難度(du)。因為(wei)異(yi)頻(pin)電(dian)源(yuan)波(bo)形的失真(zhen)度(du)對相(xiang)角(jiao)的影(ying)響(xiang)很(hen)大，或者(zhe)與(yu)實(shi)際(ji)工(gong)頻(pin)正(zheng)弦波(bo)電源(yuan)情況下所(suo)造(zao)成的介質(zhi)損(sun)耗(hao)有誤差。
為(wei)了去(qu)除接(jie)近(jin)ｆ'工(gong)頻(pin)幹擾(rao)，變頻(pin)法(fa)不(bu)得(de)不(bu)處理大量(liang)的數(shu)據，所(suo)以相(xiang)對測(ce)量時間較長。
五）、SXJS-IV處(chu)理幹擾(rao)的方(fang)法(fa)
測(ce)試電源(yuan)采(cai)用工(gong)頻(pin)，使(shi)測量(liang)與(yu)實(shi)際(ji)壹(yi)樣。交錯(cuo)分(fen)時(shi)測(ce)量(liang)幹擾(rao)信(xin)號(hao)和綜(zong)合(he)信號(hao)，將(jiang)所(suo)有測到(dao)的信(xin)號(hao)都精確(que)地(di)鎖(suo)定在(zai)與(yu)測(ce)試(shi)電(dian)源(yuan)同步(bu)的０相(xiang)位(wei)上(shang)，再(zai)將(jiang)幹擾(rao)信(xin)號(hao)倒相(xiang)與(yu)綜(zong)合(he)信(xin)號(hao)疊加得(de)到(dao)有效信號(hao)。
在(zai)數(shu)字處(chu)理上(shang)，廣(guang)泛地采(cai)用數(shu)字與(yu)電(dian)子技(ji)術(shu)，剔除了相(xiang)角(jiao)相(xiang)差１％的信(xin)號(hao)，剔除了數(shu)值(zhi)較大的幾(ji)組(zu)信(xin)號(hao)，也剔除了數(shu)值(zhi)較小(xiao)的幾(ji)組(zu)信(xin)號(hao)，再(zai)將(jiang)許多(duo)組(zu)中值(zhi)信號(hao)求平(ping)均值(zhi)得(de)出(chu)結(jie)果(guo)，而每(mei)組(zu)信(xin)號(hao)都是(shi)由許(xu)多(duo)測量信號(hao)與(yu)處(chu)理後的幹擾(rao)信(xin)號(hao)構成的。在(zai)調(tiao)試(shi)中所(suo)有數(shu)據都(dou)以６位(wei)有效數(shu)字計(ji)算(suan)。為(wei)了提(ti)高(gao)測量(liang)速(su)度(du)，采(cai)用雙計算機和高(gao)速(su)並行(xing)Ａ／Ｄ轉(zhuan)換(huan)器處(chu)理信息(xi)，軟件(jian)全部用匯(hui)編(bian)完成。
對於強(qiang)幹擾(rao)信(xin)號(hao)較精確(que)地(di)測(ce)出(chu)其大小(xiao)不(bu)難，儀(yi)器(qi)特別設計的高(gao)精度(du)相(xiang)位(wei)鎖(suo)定器能(neng)將(jiang)其準(zhun)確(que)地(di)定相(xiang)，為*消(xiao)除幹擾(rao)提(ti)供(gong)了便利(li)；對(dui)於(yu)弱(ruo)幹擾(rao)信(xin)號(hao)粗略(lve)地測(ce)出(chu)其大小(xiao)也是(shi)可以的，而相(xiang)位(wei)鎖(suo)定器並不(bu)受測(ce)量信號(hao)的大小(xiao)影響(xiang)，仍(reng)然(ran)準確(que)定相(xiang)，弱(ruo)幹擾(rao)本(ben)來對測量信(xin)號(hao)的影(ying)響(xiang)就(jiu)小，再(zai)粗略(lve)地(di)去除其大部(bu)分(fen)，也(ye)可(ke)以認為去(qu)除了幹擾(rao)。
對(dui)於(yu)突發性幹擾(rao)信(xin)號(hao)，儀(yi)器(qi)盡可能(neng)地(di)將(jiang)采(cai)樣的幹擾(rao)數(shu)據廢除，或宣(xuan)布測(ce)試失敗(bai)，以保(bao)證數(shu)據結(jie)果(guo)的可(ke)靠(kao)性。
實驗數(shu)據：用工(gong)頻(pin)５00Ｖ電(dian)壓(ya)加載(zai)５0ｐＦ電容(rong)，測量信號(hao)電流(liu)約８μＡ，無幹擾(rao)時(shi)，快(kuai)速(su)測(ce)量(liang)測得(de)介損(sun)為０.08％，抗幹擾(rao)測(ce)量(liang)測得(de)介損(sun)為０.08％；用２0000Ｖ工(gong)頻(pin)做(zuo)幹擾(rao)，距(ju)離(li)被試品１0厘(li)米(mi)，快(kuai)速(su)測(ce)量(liang)測得(de)介損(sun)為１2.2３％，抗幹擾(rao)測(ce)量(liang)測得(de)介損(sun)為０.09％。