防(fang)雷元(yuan)件(jian)測試(shi)儀(yi)又叫(jiao)SPD現場測試(shi)儀(yi),用於避雷(lei)器、防(fang)雷器(qi)、浪湧(yong)保(bao)護(hu)器、壓(ya)敏(min)電(dian)阻(zu)、金屬陶(tao)瓷(ci)放(fang)電(dian)管、直空(kong)避(bi)雷館(guan)等性能(neng)測試(shi)的(de)儀(yi)表,本(ben)表(biao)輸(shu)出功率(lv)大(da),起(qi)始動作(zuo)電(dian)壓(ya)測(ce)量範圍(wei):10-2000V,漏電(dian)流測量(liang)範圍(wei):0.1~199.9uA,重復穩定(ding)性(xing)好(hao),壹(yi)鍵(jian)測(ce)量(liang)方(fang)便(bian)快捷(jie)。用充電(dian)功能(neng)離(li)線使用克服了(le)傳統產(chan)品要插電(dian)使用不方(fang)便(bian)現場操作(zuo)的缺點(dian)、使用高壓(ya)短路保(bao)護(hu)、自動放(fang)電(dian)功能(neng)、儀(yi)表可(ke)靠安(an)全耐(nai)用。同時采(cai)用豪(hao)華(hua)大(da)彩屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)、數據(ju)存儲(chu)、數據(ju)查閱、合(he)格(ge)判斷、自動關機(ji)、USB數據(ju)上傳等功能(neng)。
1、控制面(mian)板:控制面(mian)板是(shi)測(ce)試(shi)儀(yi)的操作(zuo)界面(mian),用於設置(zhi)測試(shi)參數、控制測(ce)試(shi)過(guo)程和(he)顯(xian)示(shi)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。它通常包括(kuo)顯(xian)示(shi)屏(ping)、按鍵(jian)、旋鈕(niu)和(he)指(zhi)示(shi)燈(deng)等。
2、電(dian)源(yuan)模(mo)塊:電(dian)源(yuan)模(mo)塊提(ti)供(gong)測(ce)試(shi)儀(yi)所需(xu)的電(dian)源(yuan)供(gong)應(ying),通常包括(kuo)電(dian)源(yuan)輸入(ru)接(jie)口(kou)、電(dian)源(yuan)管理(li)電(dian)路和電(dian)源(yuan)輸出接(jie)口(kou)。它可(ke)以(yi)是內(nei)置(zhi)電(dian)池或外部(bu)電(dian)源(yuan)適配器(qi)。
3、測試(shi)模(mo)塊:測(ce)試(shi)模(mo)塊是(shi)用於執行(xing)具體(ti)的(de)防(fang)雷元(yuan)件(jian)測試(shi)的(de)核心(xin)部(bu)件(jian)。它通常包括(kuo)測(ce)試(shi)電(dian)路、信號發(fa)生(sheng)器、采(cai)樣電(dian)路和數據(ju)處(chu)理(li)電(dian)路等。測試(shi)模(mo)塊能(neng)夠(gou)模(mo)擬(ni)真(zhen)實的(de)雷(lei)電(dian)沖(chong)擊波(bo),對防(fang)雷元(yuan)件(jian)進行(xing)性(xing)能評(ping)估和(he)測(ce)試(shi)。
4、連(lian)接(jie)接(jie)口(kou):連(lian)接(jie)接(jie)口(kou)用於連(lian)接(jie)防(fang)雷元(yuan)件(jian)和測(ce)試(shi)儀(yi)。它通常包括(kuo)防(fang)雷元(yuan)件(jian)的插座(zuo)或接(jie)線端子(zi),以(yi)及測(ce)試(shi)儀(yi)的測(ce)試(shi)引(yin)線或接(jie)口(kou)。連(lian)接(jie)接(jie)口(kou)的設(she)計(ji)應(ying)能夠(gou)確保(bao)可(ke)靠的(de)電(dian)氣(qi)連(lian)接(jie)和(he)信號傳輸(shu)。
5、數據(ju)存儲(chu)與傳輸(shu)模(mo)塊:數據(ju)存儲(chu)與傳輸(shu)模(mo)塊用於存儲(chu)和傳輸(shu)測(ce)試(shi)數據(ju)。它可(ke)以(yi)包括(kuo)內(nei)部(bu)存(cun)儲(chu)器、USB接(jie)口(kou)、以(yi)太(tai)網(wang)接(jie)口(kou)或無線通信模(mo)塊等。通過(guo)這(zhe)些模(mo)塊,測(ce)試(shi)儀(yi)可(ke)以(yi)將測試(shi)結(jie)果(guo)保(bao)存(cun)在(zai)本(ben)地或傳輸(shu)到(dao)計算(suan)機(ji)或雲端(duan)進行(xing)進壹(yi)步(bu)分析(xi)和處(chu)理(li)。
6、外(wai)殼(ke)和支(zhi)架:外殼(ke)和支(zhi)架是測(ce)試(shi)儀(yi)的外(wai)部(bu)結(jie)構,用於保(bao)護(hu)內(nei)部(bu)電(dian)路和組(zu)件(jian),並提(ti)供(gong)方(fang)便(bian)的攜(xie)帶和(he)使用。外(wai)殼(ke)通常由(you)耐(nai)用的(de)材料(liao)制成(cheng),具有防(fang)護(hu)和防(fang)震(zhen)功能(neng)。支(zhi)架可(ke)以(yi)使測(ce)試(shi)儀(yi)穩定(ding)地放(fang)置(zhi)在測試(shi)臺(tai)上。