交直(zhi)流高壓試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)局(ju)部放(fang)電試(shi)驗(yan)前，應對(dui)變(bian)壓(ya)器(qi)放氣並靜(jing)置(zhi)24小(xiao)時(shi)以上(shang)。在(zai)高壓置(zhi)於(yu)5分(fen)頭，從低(di)壓(ya)側施加電壓(ya)，所(suo)有(you)變(bian)壓(ya)器(qi)套管(guan)CT二(er)次(ci)短路接(jie)地(di)，所(suo)有(you)套管(guan)端(duan)子板(ban)接地(di)。根據(ju)每個階(jie)段(duan)對(dui)試(shi)驗(yan)加壓;高、中(zhong)壓側(ce)中(zhong)性(xing)點接(jie)地(di)：高、中(zhong)壓側(ce)套管(guan)頭有(you)屏(ping)蔽(bi)罩：電抗(kang)器(qi)用(yong)於(yu)補(bu)償(chang)變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)電容(rong)電流(過(guo)補(bu)償(chang)方(fang)式(shi)約為(wei)0.5-1A)：試驗(yan)前對(dui)局(ju)部放(fang)電檢測器(qi)加壓，將(jiang)高壓側(ce)加壓至約50kV，並用(yong)100kV分(fen)壓(ya)器(qi)校(xiao)準(zhun)低(di)壓(ya)側的(de)試驗(yan)電壓(ya)。幹擾抑(yi)制，幹擾分(fen)為(wei)以下兩類(lei)：
(1)局(ju)部放(fang)電檢測器(qi)在電路通(tong)電前測試幹擾。主(zhu)要(yao)來源是測試電路以外電路中(zhong)的(de)開關操(cao)作(zuo)、附近的(de)高壓電場(chang)、電機整(zheng)流和(he)無(wu)線電傳(chuan)輸(shu)。
(2)局(ju)部放(fang)電檢測器(qi)測試(shi)電路通(tong)電後(hou)產(chan)生(sheng)的(de)幹擾，但不是(shi)來自(zi)測(ce)試(shi)對(dui)象(xiang)的(de)內(nei)部幹擾。這(zhe)種(zhong)幹擾通(tong)常隨著電壓(ya)的(de)增加而增加。幹擾包括試驗變(bian)壓(ya)器(qi)本(ben)身的(de)局(ju)部放(fang)電、高壓導(dao)線上(shang)的(de)電暈(yun)或(huo)接觸(chu)不良(liang)放(fang)電、低(di)壓(ya)電源側的(de)局(ju)部放(fang)電、通(tong)過試驗變(bian)壓(ya)器(qi)或(huo)其他(ta)連接線(xian)耦(ou)合(he)到測量(liang)電路引(yin)起的(de)幹擾等(deng)。
根(gen)據(ju)幹擾的(de)性(xing)質和(he)來源，可(ke)以使(shi)用(yong)以下方(fang)法抑(yi)制幹擾。
(1)對(dui)於(yu)電源幹擾，可(ke)在(zai)高壓試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)壹次(ci)側設(she)置(zhi)壹(yi)個低(di)通(tong)濾(lv)波(bo)器(qi)，在試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)高壓端(duan)設置(zhi)壹(yi)個高壓低(di)通(tong)濾(lv)波(bo)器(qi)，試驗(yan)電源和儀(yi)表電源可(ke)設(she)置(zhi)壹(yi)個屏(ping)蔽(bi)隔離(li)變(bian)壓(ya)器(qi)。
(2)抑(yi)制高壓端(duan)電暈(yun)放(fang)電的(de)措施是選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)的(de)非電暈(yun)球作為(wei)高壓連接。
(3)抑(yi)制測(ce)試(shi)電路接(jie)地(di)系統幹擾的(de)措施是在(zai)整(zheng)個測(ce)試(shi)電路中(zhong)選擇(ze)壹個接(jie)地(di)點。有(you)些(xie)儀(yi)器(qi)具有(you)抑(yi)制幹擾的(de)功(gong)能。此時(shi)，可(ke)以使(shi)用(yong)平(ping)衡路由(you)方(fang)法和(he)時(shi)間(jian)窗口方(fang)法來抑(yi)制幹擾。
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