天臯(gao)變(bian)壓(ya)器(qi)損(sun)耗測(ce)試儀的特(te)性(xing)

天(tian)臯(gao)變(bian)壓(ya)器(qi)損(sun)耗測(ce)試儀的特(te)性(xing)
    1.超大液(ye)晶中(zhong)文顯(xian)示 儀(yi)器(qi)配備了(le)大屏幕(mu)（105mm×65mm）中文(wen)菜(cai)單(dan)界面(mian)，屏顯(xian)分為左(zuo)右兩部分(fen)，左(zuo)邊為功能菜(cai)單(dan)區，右邊(bian)為相關狀(zhuang)態信息提(ti)示，每(mei)壹步(bu)都非(fei)常(chang)清(qing)楚(chu)，操(cao)作人員不(bu)需(xu)要(yao)專(zhuan)業(ye)培(pei)訓就(jiu)能使(shi)用。壹次操作(zuo)，微機(ji)自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)全過(guo)程(cheng)的(de)測(ce)量，是目(mu)前(qian)非(fei)常(chang)理想(xiang)的介(jie)損(sun)測量(liang)設備。 
    2.海量存(cun)儲數(shu)據 儀器(qi)內部配備有(you)日(ri)歷(li)芯片(pian)和大容量存(cun)儲器(qi)，能(neng)將檢(jian)測結(jie)果(guo)按時間順(shun)序(xu)保(bao)存(cun)，隨時可以(yi)查(zha)看(kan)歷(li)史記(ji)錄(lu)，並(bing)可以(yi)打(da)印輸出(chu)；
    3.科(ke)學(xue)先(xian)進(jin)的(de)數(shu)據管理 儀(yi)器(qi)數(shu)據可以通過(guo)U盤(pan)導出(chu)，可(ke)在(zai)任(ren)意壹臺(tai)PC機(ji)上通過(guo)變(bian)壓(ya)器(qi)損(sun)耗測(ce)試儀公司(si)軟(ruan)件(jian)，查(zha)看(kan)和管理數(shu)據並(bing)可生(sheng)成(cheng)工作(zuo)報(bao)告(gao)。
    4.多種測(ce)試模式變(bian)壓(ya)器(qi)損(sun)耗測(ce)試儀能夠分別(bie)使(shi)用內高(gao)壓(ya)、外(wai)高(gao)壓(ya)、內標(biao)準(zhun)、外(wai)標(biao)準(zhun)、正接法(fa)、反接(jie)法(fa)、自激法等多種方(fang)式測(ce)試；在(zai)外(wai)標(biao)準(zhun)外(wai)高(gao)壓(ya)情況(kuang)下可(ke)以(yi)做(zuo)高(gao)電壓(ya)（大於10kV）介(jie)質損(sun)耗。