繼電(dian)保(bao)護測(ce)試(shi)儀保(bao)護本身(shen)產(chan)生的性能問題(ti)有(you)哪(na)些

繼(ji)電(dian)保(bao)護測(ce)試(shi)儀保(bao)護本身(shen)產(chan)生的性能問題(ti)有(you)哪(na)些

    保(bao)護性能問題(ti)主(zhu)要包(bao)括裝(zhuang)置的(de)功(gong)能(neng)和(he)特性缺陷兩(liang)方(fang)面。
    在(zai)早期(qi)微(wei)機保(bao)護中(zhong)曾經(jing)出現(xian)過因(yin)故(gu)障(zhang)電流大於保(bao)護所(suo)能(neng)認(ren)知的zui大電流而(er)導(dao)致(zhi)保(bao)護拒(ju)動，這是典(dian)型(xing)的功(gong)能(neng)缺陷。而(er)其(qi)他(ta)有些(xie)保(bao)護裝(zhuang)置在(zai)投(tou)入直流電源(yuan)時(shi)出(chu)現(xian)誤動，高頻閉(bi)鎖(suo)保(bao)護存(cun)在(zai)頻拍(pai)現(xian)象(xiang)時(shi)會(hui)誤(wu)動等(deng)問題(ti)也(ye)同(tong)樣是壹種(zhong)功(gong)能(neng)缺陷。
    有些(xie)繼(ji)電保(bao)護裝(zhuang)置在(zai)系(xi)統故(gu)障(zhang)時(shi)的(de)動態特性比較特殊(shu)，而(er)保(bao)護裝(zhuang)置校驗時(shi)所(suo)采(cai)用(yong)的靜態試(shi)驗(yan)無法(fa)完(wan)整模(mo)擬，這其(qi)中(zhong)的(de)差(cha)別在(zai)事故(gu)分析(xi)時(shi)需(xu)要充分考慮(lv)。