回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀解析

壹(yi)、回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀由來(lai)：
  目(mu)前，電(dian)力系(xi)統中普(pu)遍采用(yong)常規的雙臂(bi)直流(liu)電(dian)橋(qiao)測(ce)量(liang)變壓(ya)器(qi)線(xian)圈(quan)的直流(liu)電(dian)阻(zu)、高(gao)壓(ya)斷(duan)路(lu)器的接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)，而這類(lei)電(dian)橋(qiao)的測(ce)試電(dian)流(liu)僅(jin)為m*，難(nan)以(yi)發(fa)現變壓(ya)器(qi)線(xian)圈(quan)導電(dian)回路(lu)導體(ti)截(jie)面積減少的缺(que)陷。在(zai)測(ce)量(liang)高(gao)壓(ya)開關(guan)導電(dian)回路(lu)的接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)時，由(you)於受(shou)到油膜和動靜觸(chu)點(dian)間氧化層(ceng)的(de)影(ying)響(xiang)，測(ce)量(liang)的電(dian)阻(zu)值(zhi)偏大若幹(gan)倍，掩(yan)蓋(gai)了(le)真實(shi)的(de)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)值(zhi)。根據《DL / T 845.4壹(yi)2004中華人民共和(he)國電(dian)力行(xing)業標(biao)準電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)裝置通(tong)用(yong)技術(shu)條件(jian) 第4部分(fen):回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀》對(dui)斷(duan)路(lu)器、隔離(li)開關(guan)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)電(dian)流(liu)作出(chu)不(bu)小(xiao)於100A的(de)規定，以(yi)確(que)保測(ce)量(liang)的準確度。

二 回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀概(gai)述：
  回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀，又(you)稱RX變(bian)壓(ya)器(qi)回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀，英文(wen)名稱：Loop Resistance Tester。回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀的詳(xiang)細(xi)介紹按(an)新《電(dian)力設備交(jiao)接(jie)和(he)預防(fang)性(xing)試驗(yan)規程(cheng)》要(yao)求(qiu)，各(ge)種(zhong)開關(guan)設備導電(dian)回路(lu)電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)，其(qi)測(ce)試電(dian)流(liu)不(bu)得小(xiao)於100A。對(dui)此(ci)本(ben)公司按新(xin)規程(cheng)要(yao)求(qiu)設計開發(fa)出(chu)新壹代(dai)智(zhi)能(neng)回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀產(chan)品(pin)，該產(chan)品(pin)適用(yong)於測(ce)試高(gao)低壓(ya)開關(guan)的主(zhu)觸頭接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)值(zhi)，高(gao)低壓(ya)電(dian)纜(lan)線(xian)路(lu)的(de)直流(liu)電(dian)阻(zu)值(zhi)等(deng)
 TGHL系列(lie)回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀是用(yong)於開關(guan)控(kong)制設備的(de)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)、回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)的設備，測(ce)試電(dian)流(liu)采用(yong)國(guo)家(jia)標(biao)準GB763推薦的100A直流(liu)，可(ke)在(zai)100A，200A，300A,400A,500A或600A電(dian)流(liu)的情(qing)況(kuang)下直接(jie)測(ce)得(de)回路(lu)電(dian)阻(zu)或者(zhe)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)，並直接(jie)顯示，還可(ke)保(bao)存(cun)到儀器上，zui大組(zu)數(shu)為100組(zu)，保(bao)存(cun)的(de)數據可(ke)通(tong)過RS232接(jie)口(kou)上傳(chuan)至(zhi)電(dian)腦(nao)。該(gai)儀器測(ce)量(liang)準確、性(xing)能(neng)穩(wen)定(ding)，適合(he)電(dian)力、供(gong)電(dian)部(bu)門現(xian)場(chang)高(gao)壓(ya)開關(guan)維(wei)修(xiu)和高(gao)壓(ya)開關(guan)廠回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試的要(yao)求(qiu)。

三(san) 回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀功能(neng)：
1 1分(fen)鐘(zhong)標(biao)準測(ce)試
2快速測(ce)試
3結(jie)果(guo)打印(yin)
4數(shu)據上傳(chuan)至(zhi)PC機

四(si) 回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀技術(shu)參(can)數(shu)：
1.測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)：0—1999.9μΩ    分(fen)辯(bian)率(lv)：0.1μΩ           
2.測(ce)量(liang)電(dian)流(liu)：直流(liu)600A/500A/400A/300A/200A/100A可(ke)選(xuan)
3.測(ce)量(liang)精度：0.5級
4.顯示方式：LCD中文(wen)顯示
5.可(ke)儲存(cun)100組(zu)數(shu)據
6.工(gong)作方式(shi)：連(lian)續
7.電(dian)源(yuan)：AC220V
8.溫(wen)度:-10℃~+40℃  相對(dui)濕(shi)度<80%

五 回路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀運輸及貯存(cun)：
1、運輸 
a)設備需要(yao)運輸時，建(jian)議(yi)使用本(ben)公司儀器包裝(zhuang)木(mu)箱(xiang)和減震物(wu)品(pin)，以(yi)免(mian)在(zai)運輸途中造(zao)成(cheng)不(bu)必要(yao)的(de)損壞，給您(nin)造(zao)成(cheng)不(bu)必要(yao)的(de)損失(shi)。 
b)設備在(zai)運輸途中不(bu)使用木(mu)箱(xiang)時，不(bu)允許堆(dui)碼(ma)排(pai)放。使用本(ben)公司儀器包裝(zhuang)箱(xiang)時允(yun)許zui高(gao)堆碼(ma)層(ceng)數(shu)為二(er)層(ceng)。 
c)運輸設備途(tu)中，儀器面板(ban)應(ying)朝上。 
2、貯存(cun) 
a)設備應(ying)放置(zhi)在(zai)幹(gan)燥無(wu)塵(chen)、通(tong)風無(wu)腐蝕(shi)性(xing)氣(qi)體(ti)的(de)室內。在(zai)沒(mei)有木箱(xiang)包裝(zhuang)的(de)情(qing)況(kuang)下，不(bu)允許堆(dui)碼(ma)排(pai)放。 
b)設備貯存(cun)時(shi)，面板(ban)應(ying)朝上。並在(zai)設備的(de)底部(bu)墊防(fang)潮(chao)物(wu)品(pin)，防(fang)止設備受(shou)潮(chao)。