輕(qing)型(xing)高壓試驗(yan)變(bian)壓器(qi)幾(ji)種技術(shu)及(ji)測(ce)量方(fang)法

輕型(xing)高壓試驗(yan)變(bian)壓器(qi)交(jiao)流(liu)耐壓試驗(yan)電壓的測(ce)量屬(shu)於穩(wen)定(ding)高(gao)壓的測(ce)量，常(chang)用的方(fang)法(fa)如(ru)下(xia)：
a.高(gao)壓試驗(yan)變(bian)壓器(qi)低(di)壓側(ce)測(ce)量
此方法通(tong)過測(ce)取低壓側(ce)電(dian)壓，再(zai)經(jing)過(guo)變(bian)比換算(suan)至(zhi)高壓側(ce)電(dian)壓。這(zhe)種方(fang)法簡(jian)單、直觀(guan)，但準(zhun)確度(du)較低(di)，特(te)別當負(fu)荷(he)容量較大時，誤(wu)差更大。
b.用(yong)電壓互(hu)感(gan)器(qi)測(ce)量
將(jiang)電(dian)壓互(hu)感(gan)器(qi)的原邊並(bing)接(jie)在(zai)被(bei)試品(pin)的兩(liang)端頭上，在(zai)副(fu)邊測(ce)量電(dian)壓，根據(ju)測(ce)得的電(dian)壓和(he)電(dian)壓互(hu)感(gan)器(qi)的變(bian)壓比(bi)計(ji)算(suan)出(chu)高(gao)壓側(ce)的電(dian)壓。
c.用(yong)高(gao)壓靜電(dian)電(dian)壓表測(ce)量
此方法可(ke)直接測(ce)量工(gong)頻(pin)電壓的有(you)效值(zhi)，但不(bu)適(shi)合(he)現場(chang)使(shi)用(yong)。
d.用銅球(qiu)間(jian)隙(xi)測(ce)量
由(you)壹定(ding)直徑(jing)的球(qiu)形(xing)電(dian)極構成(cheng)的空(kong)氣(qi)間(jian)隙(xi)，如(ru)外(wai)界條件不(bu)便，則壹定(ding)的間(jian)隙(xi) 距離(li)有(you)壹(yi)定(ding)的放(fang)電(dian)電壓;距(ju)離(li)改(gai)變(bian)，放電電(dian)壓也隨之(zhi)改變(bian)。利用這(zhe)種特(te)性(xing)，就可(ke)用(yong)球(qiu)間(jian)隙(xi)來(lai)進(jin)行電(dian)壓的測(ce)量，球(qiu)間(jian)隙(xi)測(ce)的是交(jiao)流電(dian)壓的峰(feng)值(zhi)。

在(zai)進(jin)行工(gong)頻(pin)交流(liu)耐(nai)壓試驗(yan)時，應註(zhu)意下(xia)列事(shi)項(xiang)：
(1)交(jiao)流(liu)耐(nai)壓試驗(yan)應在(zai)環境溫度不(bu)低於5℃、空(kong)氣(qi)相對(dui)濕度(du)不(bu)高於80%條件下(xia)進(jin)行。
(2)被(bei)試品(pin)和試驗(yan)設(she)備應妥(tuo)善(shan)接(jie)地(di)，高(gao)壓引(yin)線應有(you)足(zu)夠的機械強(qiang)度。
(3)升(sheng)壓必須從零開始，不(bu)可(ke)沖(chong)擊合閘。升(sheng)壓速(su)度(du)在(zai)40%試驗(yan)電壓以(yi)內(nei)可(ke)漏電保護(hu)器測(ce)試儀(yi)任(ren)意，其後(hou)升(sheng)壓必須均勻(yun)，速(su)度(du)約(yue)為(wei)每秒(miao)3%試驗(yan)電壓。
(4)防(fang)止(zhi)試驗(yan)電壓波(bo)形(xing)畸(ji)變(bian)，容性(xing)被試品(pin)應防(fang)止電(dian)壓諧(xie)振。
(5)耐壓試驗(yan)前後(hou)應測(ce)量被(bei)試品(pin)的絕(jue)緣(yuan)電阻。
(6)試驗(yan)應在(zai)絕(jue)緣(yuan)電阻和吸收比、直流泄(xie)漏及介質(zhi)損失正(zheng)切角(jiao)等試驗(yan)合格後(hou)方(fang)可(ke)進(jin)行。
(7)交(jiao)流耐壓試驗(yan)加(jia)至試品(pin)標(biao)準(zhun)電壓後(hou)的持(chi)續(xu)時間(jian)壹(yi)般為(wei)1min。
(8)試驗(yan)結(jie)束，斷(duan)開電源後，必須立即(ji)檢(jian)查(zha)被試品(pin)有(you)無(wu)發熱現象