繼電(dian)保護測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)使用(yong)會遇(yu)到(dao)什麽問(wen)題(ti)呢？

　　繼電(dian)保護測(ce)試(shi)儀(yi)，又(you)稱繼電(dian)保護測(ce)量(liang)儀(yi)、繼保測(ce)試(shi)儀(yi)，是(shi)壹(yi)種(zhong)多功能繼電(dian)保護校(xiao)驗儀器(qi)。該設(she)備(bei)采用(yong)單(dan)片微(wei)機(ji)技術(shu)，具(ju)有外形美觀(guan)、性(xing)能(neng)可(ke)靠、操作(zuo)簡(jian)便等特點，是(shi)校(xiao)驗繼電(dian)保護裝(zhuang)置(zhi)的(de)理想工具(ju)。繼電(dian)保護測(ce)試(shi)儀(yi)分為主(zhu)回路(lu)和(he)輔(fu)回路(lu)兩個(ge)回路。主(zhu)回路(lu)采用(yong)大(da)旋(xuan)鈕(niu)調(tiao)節，輔(fu)回路(lu)采用(yong)小(xiao)旋(xuan)鈕(niu)調(tiao)節。主(zhu)回路(lu)通過(guo)面板(ban)上(shang)“輸(shu)出選(xuan)擇(ze)”按(an)鍵(jian)開(kai)關控(kong)制其輸(shu)出(chu)的各(ge)種(zhong)量，並(bing)且(qie)每切換壹(yi)種(zhong)輸出(chu)的同(tong)時(shi)，儀器上(shang)的(de)數(shu)字(zi)電(dian)壓(ya)/電(dian)流(liu)表(biao)可(ke)自(zi)動監(jian)視(shi)其(qi)輸(shu)出(chu)值。輔(fu)回路(lu)通過(guo)輸(shu)出(chu)開(kai)關控(kong)制直接調節(jie)輸出(chu)，測(ce)量(liang)可(ke)外附萬(wan)用(yong)表(biao)測(ce)量(liang)。

　　以(yi)下(xia)是(shi)繼電(dian)保護測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)使用(yong)會遇(yu)到(dao)的問(wen)題(ti)：

　　1、電(dian)源故障(zhang)

　　電(dian)源線(xian)接觸不良：長(chang)期使用(yong)或人(ren)為操作(zuo)不當可(ke)能(neng)導致電(dian)源線(xian)與設備(bei)連接處松動或接觸不良，影(ying)響(xiang)設(she)備(bei)正常供(gong)電(dian)。

　　電(dian)源適配器故障(zhang)：電(dian)源適配器內(nei)部電(dian)路損(sun)壞(huai)或輸(shu)出電(dian)壓(ya)不穩定會導致設(she)備(bei)無(wu)法正常開(kai)機。

　　電(dian)池電(dian)量不足或損(sun)壞(huai)：部分繼電(dian)保護測(ce)試(shi)儀(yi)采用(yong)內(nei)置(zhi)電(dian)池供(gong)電(dian)，若電(dian)池電(dian)量不足或損(sun)壞(huai)，也(ye)會影(ying)響(xiang)設(she)備(bei)正常開(kai)機。

　　2、通信(xin)故障(zhang)

　　通信(xin)線(xian)路(lu)故障(zhang)：通信(xin)線(xian)路(lu)連接不良、線(xian)路(lu)損(sun)壞(huai)或線(xian)路(lu)過(guo)長(chang)都可能導致通信(xin)信(xin)號(hao)衰(shuai)減或丟(diu)失(shi)，引(yin)發通信(xin)故障(zhang)。

　　通信(xin)參(can)數(shu)設(she)置錯(cuo)誤(wu)：若繼電(dian)保護測(ce)試(shi)儀(yi)與被測(ce)設(she)備(bei)的(de)通信(xin)參(can)數(shu)設(she)置不壹(yi)致，如(ru)波特率(lv)、數(shu)據位(wei)、停(ting)止(zhi)位(wei)等不匹(pi)配，會導致通信(xin)故障(zhang)。

　　通信(xin)接口故障(zhang)：通信(xin)接口松動、損(sun)壞(huai)或接口不兼容(rong)也(ye)會導致通信(xin)故障(zhang)。

　　3、測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)異常

　　測(ce)試(shi)參(can)數(shu)設(she)置錯(cuo)誤(wu)：測(ce)試(shi)參(can)數(shu)設(she)置不正確(que)，如(ru)測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)、電(dian)壓(ya)、頻率(lv)等與實際(ji)要(yao)求不符，會導致測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)不準(zhun)確。

　　測(ce)試(shi)對象(xiang)存(cun)在問(wen)題(ti)：被測(ce)設(she)備(bei)本(ben)身(shen)存(cun)在故障(zhang)或異(yi)常，如(ru)元件(jian)損(sun)壞(huai)、線(xian)路(lu)短路(lu)或斷(duan)路等(deng)，也(ye)會導致測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)異常。

　　測(ce)試(shi)環境幹擾(rao)：測(ce)試(shi)環境中的(de)電(dian)磁幹擾(rao)、溫度(du)、濕(shi)度(du)等(deng)因素可能對測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)產(chan)生影響(xiang)，導致測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)異常。

　　4、硬件(jian)故障(zhang)

　　設(she)備(bei)老(lao)化(hua)：隨著(zhe)使用(yong)時(shi)間(jian)的(de)增(zeng)長(chang)，設(she)備(bei)內(nei)部元件(jian)會逐漸老(lao)化，導致性(xing)能(neng)下(xia)降(jiang)或損(sun)壞(huai)。

　　操作(zuo)不當：操作(zuo)人(ren)員(yuan)在使用(yong)過(guo)程(cheng)中若操作(zuo)不當，如(ru)過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)、短路(lu)等，都可能對設(she)備(bei)內(nei)部元件(jian)造(zao)成損(sun)壞(huai)。

　　環境因素：設備(bei)長(chang)期工作(zuo)在惡(e)劣(lie)的(de)環境條(tiao)件(jian)下(xia)，如(ru)高溫、高濕、振動等，也(ye)可(ke)能導致設(she)備(bei)內(nei)部元件(jian)損(sun)壞(huai)或電(dian)路板(ban)燒(shao)毀。

　　5、軟件(jian)故障(zhang)

　　軟件(jian)版本(ben)不兼容(rong)：若繼電(dian)保護測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)軟件(jian)版本(ben)與被測(ce)設(she)備(bei)的(de)軟件(jian)版本(ben)不兼容(rong)，可能導致設(she)備(bei)無(wu)法正常啟(qi)動或軟件(jian)運(yun)行(xing)異(yi)常。

　　病(bing)毒(du)感(gan)染：設(she)備(bei)受(shou)到(dao)病(bing)毒(du)攻擊可(ke)能導致軟件(jian)運(yun)行(xing)異(yi)常或軟件(jian)功能失(shi)效。

　　人為誤操作(zuo)：操作(zuo)人(ren)員(yuan)在使用(yong)過(guo)程(cheng)中若誤刪除或修改了(le)關(guan)鍵(jian)文(wen)件(jian)或設(she)置，也(ye)可(ke)能導致軟件(jian)故障(zhang)。