試(shi)驗中(zhong)影響電(dian)阻(zu)或電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)的(de)主要(yao)因素

 a．環境溫(wen)濕(shi)度

壹般材料的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)隨(sui)環(huan)境溫(wen)濕(shi)度的(de)升高而減小。相(xiang)對(dui)而言(yan)，表面(mian)電(dian)阻(zu)(率(lv))對(dui)環境濕(shi)度比(bi)較敏(min)感，而體電(dian)阻(zu)(率(lv))則(ze)對(dui)溫(wen)度較(jiao)為敏(min)感。濕(shi)度增加，表(biao)面(mian)泄(xie)漏(lou)增大，體(ti)電(dian)導電(dian)流(liu)也會增加。溫(wen)度升高，載流(liu)子(zi)的(de)運動速(su)率(lv)加快(kuai)，介(jie)質(zhi)材料的(de)吸(xi)收電(dian)流(liu)和(he)電(dian)導電(dian)流(liu)會(hui)相(xiang)應增加，據(ju)有(you)關(guan)資(zi)料(liao)報道(dao)，壹般介(jie)質(zhi)在(zai)70C時的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)僅(jin)有(you)20C時(shi)的(de)10％。因此(ci)，測量材料的(de)電(dian)阻(zu)時(shi)，必須(xu)指明(ming)試(shi)樣(yang)與環境達到(dao)平(ping)衡(heng)的(de)溫(wen)濕(shi)度。

b．測試(shi)電(dian)壓(電(dian)場(chang)強度)

介(jie)質(zhi)材料的(de)電(dian)阻(zu)(率(lv))值(zhi)壹般不(bu)能(neng)在(zai)很寬的(de)電(dian)壓範圍(wei)內(nei)保(bao)持(chi)不(bu)變(bian)，即歐(ou)姆(mu)定(ding)律(lv)對(dui)此並(bing)不(bu)適(shi)用(yong)。常(chang)溫(wen)條件下(xia)，在(zai)較低(di)的(de)電(dian)壓範圍(wei)內(nei)，電(dian)導電(dian)流(liu)隨(sui)外加電(dian)壓的(de)增加而(er)線(xian)性(xing)增加，材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)保(bao)持(chi)不(bu)變(bian)。超過(guo)壹定(ding)電(dian)壓後，由(you)於離子化運(yun)動加(jia)劇(ju)，電(dian)導電(dian)流(liu)的(de)增加遠(yuan)比(bi)測試(shi)電(dian)壓增加的(de)快，材(cai)料(liao)呈現(xian)的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)迅(xun)速(su)降(jiang)低(di)。由此可見(jian)，外加測試(shi)電(dian)壓越(yue)高，材料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)越(yue)低(di)，以(yi)致(zhi)在(zai)不(bu)同(tong)電(dian)壓下(xia)測試(shi)得(de)到(dao)的(de)材料(liao)電(dian)阻(zu)值(zhi)可能(neng)有(you)較(jiao)大的(de)差別(bie)。

值(zhi)得(de)註(zhu)意(yi)的(de)是，導(dao)致(zhi)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)值(zhi)變(bian)化(hua)的(de)決定(ding)因(yin)素是測試(shi)時的(de)電(dian)場(chang)強度，而(er)不(bu)是(shi)測試(shi)電(dian)壓。對(dui)相(xiang)同(tong)的(de)測試(shi)電(dian)壓，若(ruo)測試(shi)電(dian)極之間(jian)的(de)距(ju)離不(bu)同(tong)，對(dui)材料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)測試(shi)結果(guo)也將(jiang)不(bu)同(tong)，正(zheng)負(fu)電(dian)極之間(jian)的(de)距(ju)離越小，測試(shi)值(zhi)也越小。

c．測試(shi)時間(jian)

用(yong)壹定(ding)的(de)直流(liu)電(dian)壓對(dui)被(bei)測材(cai)料(liao)加(jia)壓時(shi)，被(bei)測材(cai)料(liao)上(shang)的(de)電(dian)流(liu)不(bu)是(shi)瞬(shun)時(shi)達到(dao)穩定(ding)值(zhi)的(de)，而是(shi)有(you)壹衰(shuai)減過(guo)程(cheng)。在(zai)加壓的(de)同時(shi)，流(liu)過(guo)較大的(de)充電(dian)電(dian)流(liu)，接(jie)著是(shi)比(bi)較長(chang)時間(jian)緩慢(man)減小的(de)吸(xi)收電(dian)流(liu)，後達(da)到(dao)比(bi)較平(ping)穩(wen)的(de)電(dian)導電(dian)流(liu)。被(bei)測電(dian)阻(zu)值(zhi)越(yue)高(gao)，達(da)到(dao)平(ping)衡(heng)的(de)時間(jian)則(ze)越長(chang)。因此(ci)，測量時為了正(zheng)確(que)讀(du)取(qu)被(bei)測電(dian)阻(zu)值(zhi)，應在(zai)穩定(ding)後讀(du)取(qu)數值(zhi)或取(qu)加壓1分(fen)鐘後的(de)讀(du)數值(zhi)。

另(ling)外(wai)，高(gao)絕(jue)緣材料的(de)電(dian)阻(zu)值(zhi)還(hai)與其帶(dai)電(dian)的(de)歷(li)史(shi)有(you)關(guan)。為(wei)準確(que)評(ping)價材料的(de)靜電(dian)性(xing)能，在(zai)對(dui)材料(liao)進行電(dian)阻(zu)(率(lv))測試(shi)時，應首(shou)先(xian)對(dui)其進行消電(dian)處(chu)理(li)，並(bing)靜置(zhi)壹定(ding)的(de)時間(jian)，靜置(zhi)時間(jian)可取(qu)5分(fen)鐘，然(ran)後，再(zai)按測量程序(xu)測試(shi)。壹般而言，對(dui)壹種(zhong)材(cai)料(liao)的(de)測試(shi)，至少應隨機抽(chou)取(qu)3～5個(ge)試(shi)樣(yang)進行測試(shi)，以(yi)其(qi)平(ping)均(jun)值(zhi)作(zuo)為測試(shi)結果(guo)。

d．測試(shi)設備(bei)的(de)泄(xie)漏(lou)

在(zai)測試(shi)中(zhong)，線(xian)路中(zhong)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)不(bu)高(gao)的(de)連(lian)線，往(wang)往會(hui)不(bu)適(shi)當(dang)地(di)與被(bei)測試(shi)樣(yang)、取(qu)樣(yang)電(dian)阻(zu)等並(bing)聯，對(dui)測量結果(guo)可能(neng)帶來(lai)較大的(de)影響。為此(ci)：為(wei)減小測量誤(wu)差(cha)，應采(cai)用(yong)保(bao)護(hu)技(ji)術，在(zai)漏電(dian)流(liu)大(da)的(de)線路(lu)上(shang)安(an)裝(zhuang)保(bao)護(hu)導體(ti)，以(yi)基(ji)本(ben)消除(chu)雜散(san)電(dian)流(liu)對(dui)測試(shi)結果(guo)的(de)影響；

高電(dian)壓線(xian)由於表(biao)面電(dian)離，對(dui)地有(you)壹定(ding)泄(xie)漏(lou)，所以(yi)盡(jin)量采(cai)用(yong)高絕緣(yuan)、大線(xian)徑的(de)高壓導(dao)線作(zuo)為高(gao)壓輸出線(xian)並(bing)盡(jin)量縮(suo)短(duan)連(lian)線，減少，杜絕電(dian)暈放(fang)電(dian)；

采(cai)用(yong)聚乙烯、聚四(si)氟(fu)乙烯等絕(jue)緣(yuan)材料(liao)制作(zuo)測試(shi)臺和(he)支撐(cheng)體，以(yi)避免由於該類(lei)原因(yin)導(dao)致測試(shi)值(zhi)偏低(di)。

e．外界(jie)幹擾(rao)

高絕(jue)緣材料加上直(zhi)流(liu)電(dian)壓後，通(tong)過(guo)試(shi)樣(yang)的(de)電(dian)流(liu)是(shi)很微(wei)小的(de)，極易受到(dao)外界(jie)幹擾(rao)的(de)影響，造成(cheng)較(jiao)大(da)的(de)測試(shi)誤(wu)差(cha)。熱電(dian)勢、接觸(chu)電(dian)勢壹般很小，可以(yi)忽(hu)略(lve)；電(dian)解(jie)電(dian)勢主要(yao)是潮(chao)濕(shi)試(shi)樣(yang)與不(bu)同(tong)金(jin)屬(shu)接(jie)觸產(chan)生的(de)，大約(yue)只(zhi)有(you)20mV，況(kuang)且(qie)在(zai)靜電(dian)測試(shi)中(zhong)均(jun)要(yao)求相(xiang)對(dui)濕(shi)度較(jiao)低(di)，在(zai)幹燥環(huan)境中(zhong)測試(shi)時，可以(yi)消(xiao)除(chu)電(dian)解(jie)電(dian)勢。因此(ci)，外界(jie)幹擾(rao)主要(yao)是雜(za)散(san)電(dian)流(liu)的(de)耦合或靜電(dian)感應產(chan)生的(de)電(dian)勢。在(zai)測試(shi)電(dian)流(liu)小於10-10A或測量電(dian)阻(zu)超(chao)過1011歐姆時(shi)；被(bei)測試(shi)樣(yang)、測試(shi)電(dian)極和測試(shi)系(xi)統均(jun)應采(cai)取(qu)嚴格的(de)屏(ping)蔽措施，消(xiao)除(chu)外界(jie)幹擾(rao)帶來(lai)的(de)影響。