回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測試儀的(de)三(san)種(zhong)測試方(fang)法(fa)

  回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測試儀是(shi)采(cai)用數字(zi)電(dian)路(lu)技(ji)術和開(kai)關電路(lu)技(ji)術制作(zuo)，它(ta)是(shi)用於開(kai)關控制設(she)備(bei)的(de)接觸(chu)電阻(zu)、回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測量(liang)的(de)設(she)備(bei)。斷(duan)路(lu)器導電回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)主要取(qu)決於動靜觸(chu)頭的(de)接觸(chu)電阻(zu)，接觸(chu)電阻(zu)的(de)存(cun)在(zai)，增(zeng)大(da)了(le)導體在(zai)通(tong)電(dian)時(shi)的(de)損耗(hao)，使(shi)接觸(chu)處的(de)溫(wen)度升(sheng)高，其(qi)值(zhi)的(de)大(da)小(xiao)直接影(ying)響正常工作(zuo)時(shi)的(de)載(zai)流能力(li)，在(zai)壹定程(cheng)度上(shang)影響短路(lu)電(dian)流(liu)的(de)切斷(duan)能力(li)，也是(shi)反(fan)映安裝(zhuang)檢修(xiu)工作(zuo)質(zhi)量(liang)的(de)重(zhong)要數據(ju)。
    目(mu)前，回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測試儀的(de)測(ce)試方(fang)法(fa)主要有(you)三(san)種(zhong),具體(ti)操作(zuo)如下：
    1、電(dian)橋法：使(shi)用雙臂電(dian)橋進行(xing)斷(duan)路(lu)器導電回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)的(de)測(ce)量時(shi)，由於測量回(hui)路(lu)通(tong)過(guo)的(de)是(shi)微(wei)弱(ruo)的(de)電(dian)流，難(nan)以(yi)消除(chu)電阻(zu)較大的(de)氧(yang)化膜(mo)，測(ce)出(chu)的(de)電(dian)阻(zu)值偏(pian)大(da)，而且由於電流小(xiao)，在(zai)其觸(chu)頭接觸(chu)處難以(yi)形成(cheng)收(shou)縮即(ji)無(wu)法(fa)測(ce)出收縮電阻(zu)。
    2、電壓(ya)降(jiang)法(fa)：在(zai)被(bei)測回(hui)路(lu)中(zhong)，通(tong)以(yi)直流(liu)電流時，在(zai)回(hui)路(lu)接觸(chu)電阻(zu)上(shang)將產(chan)生壓降(jiang)、測出(chu)通(tong)過(guo)回(hui)路(lu)的(de)電(dian)流值(zhi)和電(dian)壓(ya)值，計算(suan)出接觸(chu)電阻(zu)。測試過(guo)程(cheng)煩(fan)瑣，人工(gong)計(ji)算(suan)測量(liang)結(jie)果，存(cun)在(zai)壹定的(de)誤差(cha)。
    3、微(wei)歐儀法(fa)（回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測試儀）：原(yuan)理是(shi)電(dian)壓(ya)降(jiang)原理，只(zhi)是(shi)測(ce)量(liang)、計(ji)算(suan)等方(fang)面全(quan)用單(dan)片(pian)機處理，大(da)大減少(shao)了(le)工作(zuo)量(liang)。