SXJS-IV型(xing)智(zhi)能(neng)化(hua)介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀工(gong)作原理(li)

SXJS-IV型(xing)智(zhi)能(neng)化(hua)介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀工(gong)作原理(li)：
儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)線路(lu)包(bao)括壹(yi)路(lu)標準(zhun)回(hui)路(lu)和壹路(lu)測(ce)試(shi)回(hui)路(lu)，如圖(tu)三所(suo)示(shi)。
標準(zhun)回(hui)路(lu)由內置高(gao)穩(wen)定(ding)度標準(zhun)電(dian)容(rong)器(qi)與(yu)標準(zhun)電(dian)阻(zu)網(wang)絡(luo)組(zu)成(cheng)，由計算機實時(shi)采(cai)集(ji)標準(zhun)回(hui)路(lu)電(dian)流(liu)與測(ce)試(shi)回(hui)路(lu)的電(dian)流(liu)幅值(zhi)及其(qi)相位差(cha)，並由之(zhi)算出(chu)被(bei)測(ce)試(shi)品的(de)電(dian)容(rong)容(rong)值(zhi)（Cx）和其介質損耗(hao)（tg）。
數據(ju)采(cai)集(ji)電(dian)路(lu)全(quan)部(bu)采(cai)用(yong)高(gao)穩(wen)定(ding)度器(qi)件，采(cai)集(ji)板和采(cai)集(ji)計算機被(bei)鐵盒*浮(fu)空屏(ping)蔽(bi)，儀器(qi)的(de)外(wai)殼(ke)接(jie)地(di)屏(ping)蔽(bi)；另(ling)外(wai)使用了光導(dao)數據(ju)、浮(fu)空地(di)、大(da)面(mian)積地(di)、單點地(di)、數(shu)字(zi)濾波等抗(kang)幹(gan)擾技(ji)術(shu)，加之(zhi)計算機對(dui)數百個電(dian)網(wang)周期(qi)的(de)數(shu)據進(jin)行處理，故測(ce)量(liang)結果穩定、、可靠(kao)。
由圖(tu)三可(ke)見(jian)，儀器(qi)高(gao)壓(ya)變壓(ya)器(qi)的(de)高(gao)壓(ya)側(ce)和測(ce)量(liang)線路(lu)都是(shi)浮(fu)地(di)的(de)，用(yong)戶可根據不(bu)同(tong)的(de)測(ce)量(liang)對象和測(ce)量(liang)需要(yao)，靈(ling)活(huo)地采(cai)用(yong)多種接(jie)線(xian)方式(shi)。如(ru)采(cai)用(yong)“正接(jie)線(xian)法"進(jin)行測(ce)量(liang)時(shi)，可將“E"點接(jie)地(di)；而當(dang)采(cai)用(yong)“反接(jie)線(xian)法"進(jin)行測(ce)量(liang)時(shi)，可將“UH"點接(jie)地(di)，而將E點浮(fu)空。
圖(tu)中(zhong)除(chu)測(ce)試(shi)品Cx外(wai)，其(qi)余為本儀(yi)器(qi)。細線框內部(bu)分(fen)對(dui)儀器(qi)外(wai)殼(ke)能承受15KV工(gong)頻高(gao)壓(ya)5分(fen)鐘(zhong)，額(e)定耐(nai)壓(ya)10KV。儀器(qi)內附(fu)標準(zhun)電(dian)容(rong)CN，名(ming)義(yi)值(zhi)為50PF，tgδ≤0.0001，耐壓(ya)10KV。高(gao)壓(ya)變壓(ya)器(qi)，額(e)定輸出(chu)功率(lv)為1KVA。
★“E"點為儀器(qi)的(de)內屏(ping)蔽(bi)與測(ce)量(liang)電(dian)纜的(de)屏(ping)蔽(bi)層相連(lian)，不(bu)是(shi)大(da)地(di)，與儀器(qi)的(de)外(wai)殼(ke)也不(bu)連(lian)通(tong)！！！